Original title: Studium degradace isolační vrstvy Ta2O5
Translated title: Study of the Ta2O5 insulating layer degradation
Authors: Velísek, Martin ; Majzner, Jiří (referee) ; Sedláková, Vlasta (advisor)
Document type: Master’s theses
Year: 2013
Language: cze
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract: [cze] [eng]

Keywords: annealing; dielectric layer; I-t characteristics; iont migration; leakage current; regeneration; Ta2O5; Tantalum Capacitors; VA characteristics; I-t charakteristiky; pohyb iontů v izolační vrstvě; regenerace izolační vrstvy; Ta2O5; Tantalový kondenzátor; VA charakteristiky; Zbytkový proud; zrychlené stárnutí; žíhání

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/25172

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-606722


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Master’s theses
 Record created 2024-04-02, last modified 2024-04-03


No fulltext
  • Export as DC, NUŠL, RIS
  • Share