Original title: NOVÉ PRINCIPY CHARAKTERIZACE HRADLOVÝCH KAPACIT PRO SIGMA-DELTA MODULÁTORY
Translated title: NEW PRINCIPLES OF GATE CAPACITANCE CHARACTERIZATION FOR SIGMA-DELTA MODULATORS
Authors: Sutorý, Tomáš ; Ďuračková, Daniela (referee) ; Husák, Miroslav (referee) ; Kolka, Zdeněk (advisor)
Document type: Doctoral theses
Year: 2009
Language: cze
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract: [cze] [eng]

Keywords: capacitance measurement; CBCM method; characterization; CMOS technology; current mode; DC bias; Delta-Sigma modulator; linearization; measurement accuracy; MOS capacitor; non-linear capacitor; productive masks; Q-V characteristic; serial and parallel compensation; switched capacitors; switched currents.; test-chip; voltage dependency; CBCM metoda; charakterizace; linearizace; MOS kondenzátor; měření kapacity; napěťová závislost; nelineární kondenzátor; proudový mód; přesnost měření; Q-U charakteristika; Sigma-delta modulátor; spínané kondenzátory; spínané proudy.; stejnosměrné předpětí; sériová a paralelní kompenzace; technologie CMOS; testovací čip; výrobní masky

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/4404

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-553264


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Doctoral theses
 Record created 2024-04-02, last modified 2024-04-03


No fulltext
  • Export as DC, NUŠL, RIS
  • Share