guest ::
login
Digital Repository
Search
Submit
Help
About
Home
>
Academic theses (ETDs)
>
Doctoral theses
> NOVÉ PRINCIPY CHARAKTERIZACE HRADLOVÝCH KAPACIT PRO SIGMA-DELTA MODULÁTORY
Information
Files
Original title:
NOVÉ PRINCIPY CHARAKTERIZACE HRADLOVÝCH KAPACIT PRO SIGMA-DELTA MODULÁTORY
Translated title:
NEW PRINCIPLES OF GATE CAPACITANCE CHARACTERIZATION FOR SIGMA-DELTA MODULATORS
Authors:
Sutorý, Tomáš
;
Ďuračková, Daniela
(referee) ;
Husák, Miroslav
(referee) ;
Kolka, Zdeněk
(advisor)
Document type:
Doctoral theses
Year:
2009
Language:
cze
Publisher:
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract:
[cze]
[eng]
V předkládané disertační práci se autor zabývá využitím nových způsobů charakterizace hradlových kapacit použitelných pro realizaci sigma-delta modulátorů, jež jsou nedílnou součástí sigma-delta analogově digitálních převodníků. Navržená nová metoda charakterizace se vyznačuje vysokým rozlišením a nenáročností na vybavení měřicího pracoviště. Umožňuje rovněž charakterizaci v rozsahu kapacit používaných v sigma-delta modulátorech. Práce obsahuje jak popis vlastní metody, tak rozbor přesnosti měření a rovněž výsledky experimentů.
This thesis deals with the utilization of new principles of characterization of gate capacitances for sigma-delta modulators. Sigma-delta modulators are the integral part of sigma-delta analog-to-digital converters. The proposed new method is characterized by high resolution and modest requirements for laboratory equipment. It allows characterizing capacitances whose values are within the range which is used in sigma-delta modulators. The thesis contains description of the new method, the analysis of measurement accuracy and experimental results.
Keywords:
capacitance measurement
;
CBCM method
;
characterization
;
CMOS technology
;
current mode
;
DC bias
;
Delta-Sigma modulator
;
linearization
;
measurement accuracy
;
MOS capacitor
;
non-linear capacitor
;
productive masks
;
Q-V characteristic
;
serial and parallel compensation
;
switched capacitors
;
switched currents.
;
test-chip
;
voltage dependency
;
CBCM metoda
;
charakterizace
;
linearizace
;
MOS kondenzátor
;
měření kapacity
;
napěťová závislost
;
nelineární kondenzátor
;
proudový mód
;
přesnost měření
;
Q-U charakteristika
;
Sigma-delta modulátor
;
spínané kondenzátory
;
spínané proudy.
;
stejnosměrné předpětí
;
sériová a paralelní kompenzace
;
technologie CMOS
;
testovací čip
;
výrobní masky
Institution:
Brno University of Technology (
web
)
Document availability information:
Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record:
http://hdl.handle.net/11012/4404
Permalink:
http://www.nusl.cz/ntk/nusl-553264
The record appears in these collections:
Universities and colleges
>
Public universities
>
Brno University of Technology
Academic theses (ETDs)
>
Doctoral theses
Record created 2024-04-02, last modified 2024-04-03
Similar records
No fulltext
Export as
DC
,
NUŠL
,
RIS
Share