Original title:
Zobrazování deformace kovových materiálů pomalými elektrony
Translated title:
Direct Imaging of Deformation of Metallic Materials by Means of Slow Electrons
Authors:
Piňos, Jakub ; Kolíbal, Miroslav (referee) ; Kasl, Josef (referee) ; Frank, Luděk (advisor) Document type: Doctoral theses
Year:
2022
Language:
cze Publisher:
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství Abstract:
[cze][eng]
Rastrovací elektronová mikroskopie patří k běžným technikám analýzy moderních strojírenských materiálů. Rozvoj různých zobrazovacích technik umožňuje volit vhodný způsob pozorování pro získání nových informací o vzorku. Tato práce se zabývá přímým zobrazením deformace v kovových vzorcích pomocí rastrovací mikroskopie pomalými elektrony v průběhu in-situ tahové zkoušky. Experimenty byly provedeny na vzorcích z čisté mědi. V průběhu zkoušek byly získány snímky umožňující sledovat vývoj vlivu deformace na mikrostrukturu materiálu od jeho prvních projevů ve struktuře při intenzitách plastické deformace 3-4% až po extrémní plastickou deformaci na čele trhliny.
Scanning electron microscopy is one of the common tools for the analysis of advanced engineering materials. The development of various techniques allows choosing an appropriate mode of observation to obtain new information about sample structure and properties. The thesis deals with direct imaging of deformation in metal samples by scanning low energy electron microscopy during the in-situ tensile test. Experiments were performed on pure copper samples. Images obtained during the tensile test allow us to observe the effect of deformation in the structure of metal from the first appearance of these effects in structure at deformation intensities about 3-4% up to extreme plastic deformation at the crack tip.
Keywords:
deformation; in-situ tesile test; metals; scanning electron microscopy; scanning low energy electron microscopy; SEM; SLEEM; deformace; in-situ tensile test; kovové materiály; rastrovací elektronová mikroskopie; rastrovací elektronová mikroskopie pomalými elektrony; SEM; SLEEM
Institution: Brno University of Technology
(web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library. Original record: http://hdl.handle.net/11012/208451