Original title:
Elektrooptický Pockelsův jev v detektorech Rentgenova záření
Translated title:
Electrooptic Pockels effect in X-ray radiation detectors
Authors:
Rejhon, Martin ; Franc, Jan (advisor) ; Moravec, Pavel (referee) Document type: Bachelor's theses
Year:
2013
Language:
cze Abstract:
[cze][eng] V této práci jsme doplnili aparaturu pro měření Pockelsova jevu o regulátor teploty, který byl tvořen integrovaným obvodem a Peltierovým článkem. Dále byl proměřen průběh elektrického pole ve vzorku vysokoodporového CdTe, vhodného na detektor vysokoenergetického záření, v závislosti na přiloženém napětí a teplotě vzorku. Také bylo kvalitativně určeno rozložení náboje ve vzorku v závislosti na čase po přivedení napětí a teplotě. Nakonec byly určeny aktivační energie hlubokých hladin, které jsou odpovědné za polarizaci. Powered by TCPDF (www.tcpdf.org)In this work, we have added a temperature controller to an apparatus for measuring Pockels effect, which comprises of an integrated circuit and a Peltier element. Then the course of the electric field was measured in the sample of high resistance CdTe, a suitable detector on the high-energy radiation, depending on the voltage and temperature of the sample. Also the charge distribution in the sample was determined depending on time after the voltage and sample's temperature were reached. Finally, the activation energies of deep levels were determined, which are responsible for the polarization. Powered by TCPDF (www.tcpdf.org)
Keywords:
electric field; electrooptic effect; Pockels effect; elektrické pole; elektrooptický jev; Pockelsův jev
Institution: Charles University Faculties (theses)
(web)
Document availability information: Available in the Charles University Digital Repository. Original record: http://hdl.handle.net/20.500.11956/60287