Original title: Techniky využívající svazek nabitých částic k zobrazení a analýze materiálů
Translated title: Techniques using beam of charged particles for imaging and material analysis
Authors: Lamborová, Leona ; Kičmerová, Dina (referee) ; Čupera, Jan (advisor)
Document type: Bachelor's theses
Year: 2019
Language: cze
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstract: [cze] [eng]

Keywords: beam of charged particles; focused ion beam; Scanning electron microscopy; transmission electron microscopy; metoda fokusovaného iontového svazku; Skenovací elektronová mikroskopie; svazek nabitých částic; transmisní elektronová mikroskopie

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/176661

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-401705


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Bachelor's theses
 Record created 2019-08-26, last modified 2022-09-04


No fulltext
  • Export as DC, NUŠL, RIS
  • Share