Original title: Radiační poškození vzorků v nízkovoltové transmisní elektronové mikroskopii
Translated title: Radiation damage of samples in low-voltage transmission electron microscopy
Authors: Vykydal, Václav ; Valterová, Eva (referee) ; Kolář, Radim (advisor)
Document type: Master’s theses
Year: 2019
Language: cze
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract: [cze] [eng]
Práce je zaměřena na vliv radiačního poškození vzorků v nízkonapěťové transmisní elektronové mikroskopii. V práci se nachází obecný popis transmisních elektronových mikroskopů a jejich důležitých částí. Je zde popsán způsob poškození vzorků ozářených primárním svazkem elektronů, jak se připravují vzorky pro elektronovou mikroskopii a k jaké degradaci vzorků dochází z hlediska materiálu vzorku a časovému zatížení primárním elektronovým svazkem. This thesis is focused on Radiation damage of samples in low-voltage transmission electron microscopy. In thesis is general description of transmission electron microscopy and their important parts. There is described how samples are damaged by primary electron beam and how samples for transmission electron microscopy are prepared and which degradation occurs from the point of view materials of sample and time dose of electrons from primary electron beam.
Keywords: Low-voltage transmission electron Microscopy; Primary electron beam; Radiation damage of samples; Sample preparation for TEM; Nízkonapěťová transmisní elektronová mikroskopie; Primární elektronový svazek; Příprava vzorků pro TEM; Radiační poškození vzorků

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/177646

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-400992


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Master’s theses