Název:
O možnosti současného měření složení a tloušťky tenkých polovodičových vrstev Ga.sub.x./sub.In.sub.1-x./sub.As.sub.y./sub.P.sub.1-y./sub. na podložce InP
Překlad názvu:
Note on the simultaneous measurement of thickness and composition of Ga.sub.x./sub.In.sub.1-x./sub.As.sub.y./sub.P.sub.1-y./sub./InP thin films
Autoři:
Starý, V. ; Olšovec, P. ; Jurek, Karel ; Peřina, Vratislav ; Kohout, Jindřich Typ dokumentu: Příspěvky z konference Konference/Akce: Konference českých a slovenských fyziků /12./, Ostrava (CZ), 1996-09-02 / 1996-09-06
Rok:
1996
Jazyk:
cze
Klíčová slova:
electron probe analysis; epitaxial layers; III-V semiconductors; thin films Zdrojový dokument: 12. Konference českých a slovenských fyziků. Sborník příspěvků
Instituce: Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0113648