Název:
Určení přesných trajektorií nabitých částic a vad soustav v částicové optice
Překlad názvu:
Determination of exact charged-particle trajectories and aberrations of systems in particle optics
Autoři:
Oral, Martin Typ dokumentu: Příspěvky z konference Konference/Akce: PDS 2004, Brno (CZ), 2005-03-15
Rok:
2005
Jazyk:
cze
Abstrakt: [cze][eng] Článek popisuje postup výpočtu aberačních koeficientů regresí. Podmínkou k výpočtu je dostupnost analytického vyjádření optických vad, které se vyžívá nejen při samotné regresi, ale i následně pro rychlý výpočet poloh částic za optickým systémem, například pro získání profilů svazků. Metoda je ilustrována na výpočtu proudové hustoty ve vychýleném svazku iontů.The paper describes a method of calculation of aberration coefficients by regression (fitting). A prerequisite for the calculation is knowledge of an analytical expression of optical aberrations, which is used not only for fitting, but also for a fast computation of particle positions behind an optical system, e. g. for evaluation of a beam profile. The method is illustrated on computation of current density profiles in a deflected ion beam.
Klíčová slova:
aberrations; electron optics; spot profiles Číslo projektu: KJB2065405 (CEP) Poskytovatel projektu: GA AV ČR Zdrojový dokument: PDS 2004 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronové optiky, ISBN 80-239-4561-0
Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0111295