Original title:
Mikroprogramem řízený RAM BIST
Translated title:
Microcode-controlled RAM BIST
Authors:
Vykydal, Lukáš ; Kovalský, Jan (referee) ; Kubíček, Michal (advisor) Document type: Master’s theses
Year:
2017
Language:
cze Publisher:
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií Abstract:
[cze][eng]
Cílem práce je seznámit se s defekty polovodičových pamětí a algoritmy určenými pro je- jich detekci. Následně se práce zabývá návrhem a implementací BIST kontroléru pro test polovodičových pamětí s nízkými nároky na velikost výsledného digitálního bloku.
The goal of this work is to understand types of defects in semiconductor memories and algorithms for their testing. In the second part the work describes design and implementation of programmable BIST controller with small digital block size requirments.
Keywords:
march algorithms; memory BIST; memory testing; march algoritmy; paměťový BIST; testování pamětí
Institution: Brno University of Technology
(web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library. Original record: http://hdl.handle.net/11012/65289