Original title: Mikroskopie pomalými elektrony ve studiu složitých krystalických struktur
Translated title: STUDY OF COMPLICATED CRYSTAL STRUCTURES BY MEANS OF SLOW ELECTRONS
Authors: Mikmeková, Šárka ; Kasl, Josef (referee) ; Švejcar, Jiří (referee) ; Frank, Luděk (advisor)
Document type: Doctoral theses
Language: cze
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstract: [cze] [eng]
Pro studium krystalové struktury materiálů se standardně používají metody difrakční (RTG, neutrony, synchrotronové záření), dále difrakce zpětně odražených elektronů, skenovací transmisní elektronová mikroskopie, transmisní elektronová mikroskopie a mikroskopie pomocí fokusovaného iontového svazku. Mikroskopie pomalými elektrony (SLEEM) není stále příliš známou metodou pro studium polykrystalů, a to navzdory tomu, že představuje velmi účinný nástroj pro zobrazení krystalové struktury. Pomocí pomalých elektronů emitovaných ze vzorku a detekovaných v celém úhlovém a energiovém spektru je dosaženo vysokého prostorového rozlišení a velkého kontrastu mezi odlišně orientovanými zrny. Díky vysoké citlivosti metody na distribuci vnitřního potenciálu lze zobrazit strukturní detaily, jako jsou např. subzrna či dvojčata a mapovat vnitřní napětí. Smyslem dizertační práce je demonstrovat metodu SLEEM jako efektivní nástroj pro studium širokého spektra materiálů, jako jsou oceli, neželezné slitiny a ultrajemnozrnné kovy. Methods for examination of the crystal structure of crystalline materials include the X-Ray, neutron and synchrotron-radiation diffraction, electron backscattered diffraction in the scanning electron microscope, scanning transmission electron microscopy, transmission electron microscopy and focused ion beam microscopy. The scanning low energy electron microscopy (SLEEM) is less known as yet but already has proven itself very powerful tool for studies of the crystal lattice. By means of very slow electrons reflected from the sample and effectively detected in their full angular and energy distribution the crystalline structure is imaged at high spatial resolution and high contrast is obtained between differently oriented grains in polycrystals. Because of high sensitivity of the image signal to the inner potential distribution in the sample even details like subgrains or twins as well as strain at the microstructural level can be visualized. The aim of this thesis is to demonstrate the scanning low energy electron microscopy as an effective tool for investigation of wide range of materials like steels, non-ferrous alloys and ultra-fine grained materials.
Keywords: advanced materials; cathode lens; HV SLEEM; SEM; UHV SLEEM; HV SLEEM; katodová čočka; pokročilé materiály; SEM; UHV SLEEM

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/26943

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-234186


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Doctoral theses