Název: Basic Measurement of Dynamic Properties of Amplifier with Bipolar Transistor
Autoři: Repčík, J.
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Jazyk: slo
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: The aim of this article is to analyze the theoretical basis of amplifier with bipolar transistors measurement. In particular, this contribution focuses on a convenient way of setting the operating point of an amplifier with BJT and subsequently on measuring particular dynamic properties. To accomplish this, the automated laboratory measurement was developed, by using appropriate measurement devices along with LabVIEW software.
Klíčová slova: bipolar; LabVIEW; linearity; operating point; THD; transistor
Zdrojový dokument: Proceedings of the 21st Conference STUDENT EEICT 2015, ISBN 978-80-214-5148-3

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/42946

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-220476


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Konferenční materiály > Příspěvky z konference