Original title:
Použití difrakce odražených elektronů
Translated title:
Applications of Electron back-scattered diffraction
Authors:
Kopeček, Jaromír Document type: Papers Conference/Event: Podzimní škola rentgenové mikroanalýzy, Žd´ár nad Sázavou (CZ), 2012-10-22 / 2012-10-25
Year:
2012
Language:
cze Abstract:
[cze][eng] Příspěvek popisuje použití difrakce zpětně odražených elektronů.The contribution describe the application of Electron back-scattered diffraction
Keywords:
EBSD method; scanning electron microscopy Host item entry: Podzimní škola rentgenové mikroanalýzy, ISBN 978-80-7080-834-4
Institution: Institute of Physics AS ČR
(web)
Document availability information: Fulltext is available at the institute of the Academy of Sciences. Original record: http://hdl.handle.net/11104/0221020