|
|
Využití elektronové mikroskopie pro detekci nanočástic ve vybraných potravinách
Boriková, Natália ; Hrabalová, Vendula (oponent) ; Dzurická, Lucia (vedoucí práce)
Táto bakalárska práca sa zaoberá detekciou nanočastíc vo vybraných potravinových produktoch za využitia elektrónového mikroskopu. K tomuto účelu boli vybrané konkrétne strieborne perly, strieborný prášok a potravinárska beloba. Samotné nanočastice môžu mať vo vysokých koncentráciách negatívny vplyv na ľudský organizmus. Je potrebné, aby spĺňali určité legislatívne normy. Hlavnou podstatou danej práce je zistiť spôsob, akým by bolo možné detegovať nanočastice v potravinových produktoch. Teoretická časť poskytuje pohľad na vlastnosti nanočastíc, ich využitie a popisuje metódy na ich stanovenie, primárne s dôrazom na elektrónovú mikroskopiu. V praktickej časti boli pripravené roztoky s umelo pridanými nanočasticami, ktoré slúžili ako štandardy. Zo zvolených potravín boli pripravené dve vzorky – s pridanými nanočasticami a bez prídavku nanočastíc. Vzorky boli analyzované pomocou nízkonapäťového elektrónového mikroskopu typu LVEM 25E spolu s prvkovou analýzou pomocou energiodisperznej spektroskopie (EDS). Výsledky poskytujú zloženie daných potravín a informácie o ich samostatnej prítomnosti nanočastíc. Tento výskum prispieva k lepšiemu pochopeniu ich charakteristík a bezpečnosti v potravinách.
|
|
|
Monte Carlo simulace elektronového rozptylu v rastrovacím prozařovacím elektronovém mikroskopu
Záchej, Samuel ; Hrubanová, Kamila (oponent) ; Krzyžánek, Vladislav (vedoucí práce)
Diplomová práca popisuje elektrónový rozptyl v STEM systémoch na objektoch rôzne-ho tvaru, akými sú hranol, guľa alebo dutá kapsula. Na kvantifikáciu viacnásobného rozptylu elektrónov v materiáloch sú využité Monte Carlo simulácie. Okrem teoretického rozboru elektrónového rozptylu a metodiky simulácií, obsahuje práca aj návrh a realizáciu algoritmu pre simulácie na zadaných objektoch. Práca zahŕňa overenie robustnosti simulácií na základe porovnania výsledkov so známymi signálmi pre daný objekt. Funkčnosť algoritmu bola overená experimentálnym meraním elektrónového rozptylu na vrstve uhlíka.
|
|
|
Monte Carlo simulace elektronového rozptylu v rastrovacím prozařovacím elektronovém mikroskopu
Záchej, Samuel ; Hrubanová, Kamila (oponent) ; Krzyžánek, Vladislav (vedoucí práce)
Diplomová práca popisuje elektrónový rozptyl v STEM systémoch na objektoch rôzne-ho tvaru, akými sú hranol, guľa alebo dutá kapsula. Na kvantifikáciu viacnásobného rozptylu elektrónov v materiáloch sú využité Monte Carlo simulácie. Okrem teoretického rozboru elektrónového rozptylu a metodiky simulácií, obsahuje práca aj návrh a realizáciu algoritmu pre simulácie na zadaných objektoch. Práca zahŕňa overenie robustnosti simulácií na základe porovnania výsledkov so známymi signálmi pre daný objekt. Funkčnosť algoritmu bola overená experimentálnym meraním elektrónového rozptylu na vrstve uhlíka.
|
host ::
RSS.