|
|
Vliv vibrací na kvalitu snímků elektronového mikroskopu
Šafář, Pavel ; Horák, Karel (oponent) ; Havránek, Zdeněk (vedoucí práce)
Práce se zabývá jedním z parazitních vlivů působících na elektronový mikroskop během pořizování snímků, a to vibracemi. Jejich vliv na kvalitu snímku je zásadní a proto je žádoucí zjistit původ vibrací a způsob, jakým se na zařízení přenášejí, a pokusit se je co nejvíce eliminovat. Součástí práce je měření, jehož účelem je prověření zdrojů vibrací nacházejících se na zařízení i mimo něj.
|
|
| |
|
|
Analýza obrazu pro korekci elektronových mikroskopů
Smital, Petr ; Schwarz, Daniel (oponent) ; Kolář, Radim (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá fyzikální podstatou korekcí elektronového mikroskopu a matematickými metodami zpracování obrazu potřebnými pro jejich kompletní automatizaci. Jedná se o různé typy ostření, korekci astigmatismu, centrování elektronového svazku či stabilizaci obrazu. Mezi popsané matematické metody patří různé metody zjištění ostrosti a astigmatismu, jak s použitím Fourierovy transformace, tak bez ní, dále metody detekce hran, operace s histogramem a lícování snímků, tedy zjišťování prostorových transformací v obraze, včetně zmínky o optimalizačních metodách. Tato práce obsahuje podrobný popis matematických metod, jejich zhodnocení na základě testovací „offline“ aplikace, popis algoritmů jejich implementace do reálného elektronového mikroskopu a výsledek testu na reálném mikroskopu v podobě videozáznamu z obrazovky ovládacího počítače.
|
|
|
Testing of service life of the bolt fastening used in electron microscopy
Habarka, Ondrej ; Radoš, Jiří (oponent) ; Krejsa, Jiří (vedoucí práce)
The goal of this bachelor’s thesis is to choose suitable material and its surface finish for bolt fastening with fine thread on specimen holder in electron microscope. The first part is overview of applicable materials and metal finishes that are non-magnetic, so they do not affect electron beam in microscope. Further the thesis deals with creating the test tool for life time testing of various spindle specimens. The final result of the thesis represents comparing tested materials and choosing the most suitable for real application.
|
|
|
An influence of electron beam on thin oxide films
Kostyal, Michal ; Průša, Stanislav (oponent) ; Čechal, Jan (vedoucí práce)
This bachelor work deals with a study of the influence of electron beam of scanning electron microscope on the surface of the SiO2/Si (100) – sample. In the work the electron and atomic force microscopy briefly described. The main objective of experimental part is to describe variation in the brightness of sample SiO2/Si (100) in Scanning electron microscope images. In this study is found that on the sample surface are created objects few nm high. The rest of the work is then devoted to measuring the dependence of the object’s high on different variables. Experiments are generally based on the selective irradiation of the sample surface by scanning electron microscope, measurement of irradiated parts using atomic force microscope and evaluation in the application Gwyddion.
|
|
| |
|
| |
|
|
Komunikační a řídicí karta k elektronovému mikroskopu
Robotka, Jan ; Petyovský, Petr (oponent) ; Macho, Tomáš (vedoucí práce)
Hlavním cílem této práce bylo navrhnout novou komunikační a řídicí kartu pro elektronový mikroskop, případně pro další zařízení firmy Delong Instruments a.s., která se zabývá jejich vývojem a výrobou. Tato karta by měla nahradit stávající komunikační kartu, jejíž výpočetní výkon již začíná být nedostačující. Současně nahradí i řídicí a měřicí kartu s A/D a D/A převodníky. Bude tedy umožňovat nejen komunikaci s nadřazeným počítačem a ostatní elektronikou, ale i řízení dalších subsystémů elektronového mikroskopu, zjišťování jeho provozních stavů a měření vnitřních fyzikálních veličiny. V úvodu práce byly nejprve stanoveny požadavky karty, na jejichž základě byla navržena základní koncepce včetně jednoduchého blokového schématu. Důležité bylo vybrat vhodný mikrokontrolér, který bude celou kartu řídit a je tedy její nejdůležitější částí. Důraz byl kladen především na dostatečný výpočetní výkon, velkou modularitu z hlediska jeho periferií, vidinu inovace a podpory do budoucna a samozřejmě cenu. Dále bylo požadováno, aby v sobě zahrnoval rozhraní Ethernet, pomocí kterého bude karta komunikovat s nadřazeným počítačem. Vybrán byl mikrokontrolér s jádrem ARM Cortex-M3, jehož vlastnostem je věnována samostatná kapitola. Další část práce se zabývá hlavním komunikačním rozhraním karty, kterým je již zmíněné rozhraní Ethernet. Po obecném popisu je toto rozhraní stručně prostudováno v souvislosti s vybraným mikrokontrolérem a dále je řešena otázka vyšších vrstev komunikace, kterou představují protokoly rodiny TCP/IP. Nedílnou součástí práce byl výběr důležitých komponent, kterými jsou zejména A/D a D/A převodníky. Jejich parametry budou mít velký vliv na konečné vlastnosti karty. V závěrečné, stěžejní fázi bylo navrženo obvodové schéma, které je v práci detailně popsáno a vysvětleno. Toto schéma je hlavním výsledkem celé práce a je hlavním podkladem pro následnou realizaci navržené karty. Navržená karta bude schopná zpracovat a řídit 16 diferenciálních analogových vstupních signálů, 16 diferenciálních analogových výstupních signálů, 8 digitálních vstupů, 8 jednoduchých digitálních výstupů a 4 digitální výstupy spínané přes optické oddělovače. Bude komunikovat s nadřazeným počítačem přes rozhraní Ethernet rychlostí až 100 Mbit/s, s ostatní elektronikou přes sériovou linku UART s využitím optických kabelů a s dalšími zařízeními přes rozhraní RS-485 a RS-232.
|
|
|
Modification of nanomanipulator used in electron microscope
Habarka, Ondrej ; Tkoč,, David (oponent) ; Krejsa, Jiří (vedoucí práce)
The goal of this master's thesis is to improve the smallest step performance of the nanomanipulator, that is used in electron microscope. The first part deals with analysis of the mechanism in order to find possible solutions. Further the thesis deals with testing the solutions such as optimizing stiffness of the pretension springs of the mechanism or changing lubrication of the worm drive of the mechanism. Result of the thesis is choice of the most suitable solution according to tests results and then modification of the nanomanipulator.
|
|
|
Mikroskopická analýza defektů solárních článků
Brukner, Jakub ; Solčanský, Marek (oponent) ; Stojan, Radek (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá detekcí defektů solárních článků pomocí elektroluminiscence, elektronového mikroskopu a následného 3D modelování defektních oblastí a struktury solárního článku. V textu jsou popsány základní metody pro detekci defektů vyskytujících se v solárních článcích. Také jsou zde popsány základní defekty, které se mohou objevit při jejich výrobě. Pro lepší orientaci je zde také popsán základní princip funkčnosti solárních článků a postup jejich výroby.
|
host ::
RSS.