|
Optimalizace detekce sekundárních elektronů segmentovým ionizačním detektorem v environmentálním REM
Černoch, P. ; Jirák, Josef
Článek se zabývá prezentací výsledků optimalizace detekce sekundárních elektronů ionizačním detektorem v environmentálním rastrovacím elektronovém mikroskopu. Ionizační detektory mající různé geometrie elektrod a různá napětí na těchto elektrodách, tzv. segmentové ionizační detektory, jsou prezentovány jako možnost k dosažení požadovaných kontrastů v obraze vzorku. Snímky v této práci získané několika detektory demonstrují detekci různých typů elektronů s využitím vzorku obsahující tenké povrchové vrstvy a vzorku vyrobeného k měření materiálového kontrastu.
|
|
CAD v elektronové optice
Lencová, Bohumila
Pozvaný referát na 8. Mezinárodní konferenci mikroskopie v sekci Elektronová optika a optické prvky. Diskutuje témata jako opadávající zájem o příspěvky z elektronové optiky na mikroskopických konferencích a pokrok ve výpočetních programech (například EOD z ÚPT AV ČR), zejména v přesném trasování elektronů v elektromagnetických polích a v uživatelských interfejsích.
|
| |
| |
| |
| |
| |
|
Detekce signálu segmentovým ionizačním detektorem
Černoch, P. ; Jirák, Josef
Článek se zabývá detekcí signálu segmentovým ionizačním detektorem. Jsou studovány změny kontrastů mikrosnímku v závislosti na odlišných potenciálech na elektrodách segmentového ionizačního detektoru. Součástí experimentu jsou simulace drah elektronů v elektrostatických polích detektorů vyhotovené v programu Simion 3D 7.0.
|
|
Výpočty nízkonapěťového BSE detektoru
Wandrol, Petr ; Autrata, Rudolf
Klasický detektor zpětně odražených elektronů nemá při nízké energii primárních elektronů (méně než 3 kV) signál dostatečný k vytvoření kvalitního obrazu. Vhodným urychlením zpětně odražených elektronů a odkloněním nežádoucích sekundárních elektronů je možné dosáhnout kvalitního nízkonapěťového BSE obrazu. V práci jsou pomocí programů ELD, MLD, Trasys a Simion 3D počítány elektrostatická a magnetická pole působící v okolí navrhovaného detektoru.
|
|
Pozorování zubní skloviny a dentinu v SEM
Wandrol, Petr ; Roubalíková, L. ; Autrata, Rudolf
Cílem práce bylo zjistit zda kyselý monomer na bázi éter akrylátu kyseliny fosforečné (AdHeSe) je schopen vytvořit stejně kvalitní vzor v zubní sklovině a dentinu jako konvenční ošetření 37 procentní kyselinou fosforovou (TotalEtch). Pro ošetřený skloviny se jako vhodnější jeví použití metody AdHeSe. U dentinu je možno použít obě metody, výsledky jsou prakticky shodné.
|