|
|
Měřicí pracoviště rezistivity pro kompozitní materiály
Kucharčík, Jan ; Barath, Peter (oponent) ; Vognar, Jiří (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zaměří na vytvoření měřicího pracoviště kompozitních materiálů. Na pracovišti bude zkoumat vlastnosti jednotlivých alotropních modifikací uhlíků. Pomocí sestrojeného pracoviště bude měřena rezistivita sypkých vzorků v závislosti na tlaku. V závěru jsou popsány výsledky měření a návrhy, jak zlepšit přesnost měřící metody.
|
|
|
Příprava a optické vlastnosti tenkých vrstev a vrstevnatých struktur pomocí plazmochemické depozice
Kucharčík, Jan ; Boušek, Jaroslav (oponent) ; Čech, Vladimír (vedoucí práce)
Diplomová práce je v teoretické části zaměřena na popis principu spektroskopické elipsometrie a tvorbu tenkých vrstev metodou plazmochemické depozice z plynné fáze (PECVD). V experimentální části je popsán depoziční systém, elipsometr a vyhodnocení změřených dat, materiály použité pro přípravu vzorků a průběh výroby vzorků. Byly připravovány jak jednoduché tak vícevrstvé struktury polymerních materiálů. Výsledky práce neprokázaly závislost optických vlastností materiálu na tloušťce vrstvy. Jsou zde popsány vlivy efektivního výkonu a depozičních směsí plynů na optické vlastnosti vrstev.
|
|
| |
|
|
Měřicí pracoviště rezistivity pro kompozitní materiály
Kucharčík, Jan ; Barath, Peter (oponent) ; Vognar, Jiří (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zaměří na vytvoření měřicího pracoviště kompozitních materiálů. Na pracovišti bude zkoumat vlastnosti jednotlivých alotropních modifikací uhlíků. Pomocí sestrojeného pracoviště bude měřena rezistivita sypkých vzorků v závislosti na tlaku. V závěru jsou popsány výsledky měření a návrhy, jak zlepšit přesnost měřící metody.
|
|
|
Příprava a optické vlastnosti tenkých vrstev a vrstevnatých struktur pomocí plazmochemické depozice
Kucharčík, Jan ; Boušek, Jaroslav (oponent) ; Čech, Vladimír (vedoucí práce)
Diplomová práce je v teoretické části zaměřena na popis principu spektroskopické elipsometrie a tvorbu tenkých vrstev metodou plazmochemické depozice z plynné fáze (PECVD). V experimentální části je popsán depoziční systém, elipsometr a vyhodnocení změřených dat, materiály použité pro přípravu vzorků a průběh výroby vzorků. Byly připravovány jak jednoduché tak vícevrstvé struktury polymerních materiálů. Výsledky práce neprokázaly závislost optických vlastností materiálu na tloušťce vrstvy. Jsou zde popsány vlivy efektivního výkonu a depozičních směsí plynů na optické vlastnosti vrstev.
|
host ::
RSS.