Název:
Příprava a testování SNOM sond speciálních vlastností
Překlad názvu:
Preparation and testing of SNOM probes
Autoři:
Bobek, Juraj ; Pavera, Michal (oponent) ; Spousta, Jiří (vedoucí práce) Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok:
2017
Jazyk:
cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze][eng]
Oblasť výskumu, ktorá sa zaoberá úpravou povrchov a tvorbou nanoštruktúr, je ešte stále velmi neprebádaná. A iba malý príspevok do tejto oblasti je pojednávaný v tejto bakalárskej práci. Jej cieľom je výroba a testovanie sondy z dutého optického vlákna určenej do rastrovacej sondovej mikroskopie. Parametre optického vlákna v kombinácii s vhodnou technikou umožnia prelom mnohým zaujímavým aplikáciam. Za zmienku stojí vstrekovanie plynu do blízkosti povrchu vzorky (GIS) a jeho následná modifikácia použitím elektrónového (FEBID), iónového (FIBID) alebo laserového zväzku.
The area of research that deals with surface modification and preparation of nanostructures is still very unexplored. And only a little contribution to this field is discussed in this bachelor thesis. Its goal is to manufacture and to test a probe made off hollow optical fibre that is used in Scanning Probe Microscopy. Optical fibre parameters in combination with proper and unique techniques allow the breakthrough off very interesting applications. It's worth mentioning the gas injection in the proximity of the surface of a sample (GIS) and thus its modification by use of electrons (FEBID), ions (FIBID) or laser beams.
Klíčová slova:
AFM; duté optické vlákno; FEBID; FIB; FIBID; GIS; Kaufmanov iónový zdroj; leptanie; LiteScope; SEM; SNOM; SPM; AFM; etching; FEBID; FIB; FIBID; GIS; hollow optical bre; Kaufman ion source; LiteScope; SEM; SNOM; SPM
Instituce: Vysoké učení technické v Brně
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/67740