Název: Luminiscence polovodičů studovaná rastrovací optickou mikroskopií v blízkém poli
Překlad názvu: Luminescence of semiconductors studied by scanning near-field optical microscopy
Autoři: Těšík, Jan ; Klapetek, Petr (oponent) ; Křápek, Vlastimil (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2017
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: dichalkogenidy přechodných kovů (TMD); dvojdimenzioální materiály; fotoluminiscence; optická mikroskopie; Ramanova spektroskopie; SNOM; sulfid molybdeničitý (MoS2); 2D materials; Molybdenum disulfide (MoS2); optical microscopy; Photoluminescence; Raman spectroscopy; SNOM; Transition metal dichalcogenides (TMD)

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/67991

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-569579


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce
 Záznam vytvořen dne 2024-04-02, naposledy upraven 2024-04-03.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet