Název: Afm Of Hopg: Case Study Of Hopg Milling
Autoři: Komínek, Josef
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: The purpose of this work is study of highly oriented pyrolytic graphite (HOPG) processed by focused ion beam (FIB) using atomic force microscopy (AFM) and Raman spectroscopy. Due of its properties, HOPG have a promising potential and wide range of applications in nanotechnology. AFM demonstrates quality of the pattern created by FIB: topography of patterned area, shape of the edges, etc. Raman spectroscopy indicates defectiveness of the near surface area occurred due to FIB processing.
Klíčová slova: guide; template
Zdrojový dokument: Proceedings I of the 26st Conference STUDENT EEICT 2020: General papers, ISBN 978-80-214-5867-3

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/200546

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-447598


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Konferenční materiály > Příspěvky z konference