Original title: Studium vlastností povrchu monokrystalů CdTe se sub-nanometrovým hloubkovým rozlišením
Translated title: Investigation of properties of CdTe single-crystals surfaces with sub-nanometer depth resolution
Authors: Čermák, Rastislav ; Bábor, Petr (referee) ; Šik, Ondřej (advisor)
Document type: Bachelor's theses
Year: 2019
Language: eng
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract: [eng] [cze]
V laboratořích Středoevropského technologického institutu – CEITEC je k dispozici unikátní zařízení Qtac, umožňující kvantitativně měřit složení horní atomové vrstvy různých materiálů včetně izolátorů. Qtac k tomu využívá nízkoenergiového rozptylu iontů, tzv. metodu LEIS. Kromě analýzy horní atomové vrstvy je LEIS v Dynamickém módu schopen určit hloubkový profil koncentrace prvku se sub-nanometrovým hloubkovým rozlišením. In the Central European Institute of Technology (CEITEC) laboratires, a Qtac device is available, allowing us to quantitatively measure the composition of the upper-most atomic layer of different materials, including dielectrics. Qtac uses the backscattering of low-energy ions, the so-called LEIS method. Besides the surface atomic layer analysis, using the Dynamic mode LEIS can determine the depth profile of elemental concentrations with sub-nanometer precision.
Keywords: CdTe; LEIS; povrchová kontaminace; stochiometie; CdTe; LEIS; stoichiometry; surface contamination

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/173790

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-401382


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Bachelor's theses