Název: Testování polovodičových detektorů v pražské laboratoři
Překlad názvu: Tests of Semiconductor Detectors in Prague Laboratory
Autoři: Krásny, Peter ; Kodyš, Peter (vedoucí práce) ; Carli, Ina (oponent)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2019
Jazyk: eng
Abstrakt: [eng] [cze]
This thesis is focused on the usage of silicon semiconductor detectors in ATLAS experiment and automation of safe cooling and heating processes needed during the tests performed on detectors at a given tem- perature. The tests take place in the freezer environment with the place of interest where the detector is to be placed required to stay dry throughout the entire test. This is secured by monitoring the temperature and rela- tive humidity of the environment using Interlock device with sensors and by automatic calculation of the dew point temperature without any supply of nitrogen commonly used in other set ups of the tests. Both cooling and heating processes are being prepared to be fully automatized, reducing the amount of manual handling required to minimum which helps to maintain the conditions and safe run of the test. 1 Tato bakalářská práce je zaměřená na využití křemíkových po- lovodičových detektorů v experimentu ATLAS a na automatizaci ochlazo- vacích a ohřívacích procesů po dobu testování detektorů při zvolené tep- lotě. Testy jsou vykonané v prostředí mrazicího boxu a je nutné, aby po dobu celého testu zůstalo místo, kde je detektor umístěný, suché. Toto je zabezpečené monitorováním teploty a relativní vlhkosti vzduchu daného pro- středí pomocí přístroje Interlock se senzory a automatickým výpočtem tep- loty rosného bodu bez využití dusíku, který se běžně využívá v podobných testech. Ochlazovací i ohřívací procesy jsou ve fázi přípravy na úplnou au- tomatizaci, co bude minimalizovat manuální manipulaci, která je nutná na obsluhu testů. Tím bude zajištěný plynulý a bezpečný průběh daných testů. 1
Klíčová slova: elektronika; GPIB; křemíkový detektor; ROOT; RS-232; Testy polovodičových detektorů; electronics; GPIB; ROOT; RS-232; silicon detector; Tests of semiconductor detectors

Instituce: Fakulty UK (VŠKP) (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dostupné v digitálním repozitáři UK.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/20.500.11956/108154

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-398177


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Univerzita Karlova > Fakulty UK (VŠKP)
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce