Název: CAD in Electron Optics
Překlad názvu: CAD v elektronové optice
Autoři: Lencová, Bohumila
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Multinational Congress on Microscopy /8./, Prague (CZ), 2007-06-17 / 2007-06-21
Rok: 2007
Jazyk: eng
Abstrakt: [eng] [cze]
Invited talk on 8th Multinational congress on microscopy in the session Electron optics and optical elements. It discusses the themes of reduced interest in papers from electron optics on microscopy conferences and the progress in computational programs (such as EOD from ISI AS CR), in particular in accurate electron ray tracing in electromagnetic fields and in user interfaces. Pozvaný referát na 8. Mezinárodní konferenci mikroskopie v sekci Elektronová optika a optické prvky. Diskutuje témata jako opadávající zájem o příspěvky z elektronové optiky na mikroskopických konferencích a pokrok ve výpočetních programech (například EOD z ÚPT AV ČR), zejména v přesném trasování elektronů v elektromagnetických polích a v uživatelských interfejsích.
Klíčová slova: CAD; electron optics; user interfaces
Číslo projektu: CEZ:AV0Z20650511 (CEP), GA102/05/2325 (CEP), GA102/05/0886 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA ČR, GA ČR
Zdrojový dokument: Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy, ISBN 978-80-239-9397-4

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0152720

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-37971


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference