Název: Slepá Dekonvoluce Obrazu ve STEM Módu Elektronového Mikroskopu
Překlad názvu: Blind Image Deconvolution in STEM mode of Electron Microscope
Autoři: Valterová, Eva ; Walek, Petr (oponent) ; Potočňák, Tomáš (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2018
Jazyk: eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [eng] [cze]
Slepá dekonvoluce je metoda, při které je rozptylová funkce a skutečný obraz rekonstruován zároveň. Cílem této práce je představit různé metody slepé dekonvoluce a najít optimální metodu rekonstrukce původního obrazu a rozptylové funkce. Jako nejvhodnější metoda slepé dekonvoluce byl zvolen algoritmus střídavé minimalizace, který byl upraven a testován. Vlastnosti navrženého algoritmu byly testovány na uměle degradovaných datech a na reálných datech pořízených skenovacím transmisním elektronovým mikroskopem. Účinnost algoritmu byla hodnocena hned několika hodnotícími kritérii. Byla zjištěna omezení algoritmu a tím specifikováno jeho využití. Blind image deconvolution is method, which restore the true image and point spread function simultaneously. The goal of this paper is to introduce several methods of blind deconvolution and find the optimal method for reconstruction of the true image and point spread function of images from scanning transmission electron microscope. The alternating minimization algorithm is assumed as the most convenient for blind deconvolution problem. Then it is modified and tested. The proposed algorithm properties are tested on artificially degraded data and the real data from scanning transmission electron microscope. The algorithm efficiency is evaluated by several evaluating criteria. The algorithm limitations are determined and its area of use is specified.
Klíčová slova: alternating minimization algorithm; Blind deconvolution; blur; image restoration; point spread function; scanning transmission electron microscopy; total variation.; restaurace obrazu; rozptylová funkce; skenovací transmisní elektronová mikroskopie; Slepá dekonvoluce; střídavý minimalizační algoritmus; totální variace.; zkreslení

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/81659

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-377764


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce