Original title: Diagnostika polovodičových materiálů metodou EBIC
Translated title: Diagnostic of semiconductor materials by EBIC method
Authors: Davidová, Lenka ; Máca, Josef (referee) ; Čudek, Pavel (advisor)
Document type: Master’s theses
Year: 2017
Language: cze
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract: [cze] [eng]

Keywords: acceleration voltage.; carrier lifetimes; diffusion length; EBIC; extrinsic semiconductor; intrinsic semiconductor; PN junction; Scanning electron microscope; difuzní délka nosičů; doba života nosičů; EBIC; nevlastní polovodič; PN přechod; Rastrovací elektronový mikroskop; urychlovací napětí.; vlastní polovodič

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/67147

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-319289


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Master’s theses
 Record created 2017-06-12, last modified 2020-04-09


No fulltext
  • Export as DC, NUŠL, RIS
  • Share