Název: Mikroprogramem řízený RAM BIST
Překlad názvu: Microcode-controlled RAM BIST
Autoři: Vykydal, Lukáš ; Kovalský, Jan (oponent) ; Kubíček, Michal (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2017
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]
Cílem práce je seznámit se s defekty polovodičových pamětí a algoritmy určenými pro je- jich detekci. Následně se práce zabývá návrhem a implementací BIST kontroléru pro test polovodičových pamětí s nízkými nároky na velikost výsledného digitálního bloku. The goal of this work is to understand types of defects in semiconductor memories and algorithms for their testing. In the second part the work describes design and implementation of programmable BIST controller with small digital block size requirments.
Klíčová slova: march algoritmy; paměťový BIST; testování pamětí; march algorithms; memory BIST; memory testing

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/65289

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-316440


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce