Název:
Analýza stochastických procesů v elektronických součástkách
Překlad názvu:
Analysis of stochastic processes in electronic components
Autoři:
Vlčková, Irena ; Šebesta, Vladimír (oponent) ; Zajaček, Jiří (vedoucí práce) Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok:
2010
Jazyk:
cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze][eng]
V této bakalářské práci se zabývám šumem elektronických součástek, využití nedestruktivní analýzy ke zpracování elektronického šumu v polovodičových součástkách a měřením vzorků. Práce je rozdělena do tematických okruhů: Typy šumů; Spektrum náhodných spojitých signálů, Výpočty spektra pomocí metody periodogramu a metodou sub-pásmového kódování a následná FFT, Aparatura pro měření šumu, Výsledky měření šumu. V praktické části 5 a 6 jsou uvedeny výsledky měření na vybraných elektronických součástkách, transportní a šumové charakteristiky a to je porovnáno s teoretickými předpoklady
The Bachelor Thesis deals with the interference of electronic parts, using of non-destructive analysis for electronic interference in semi-conductive parts and measured samples. The thesis is divided into thematic areas: Interference types; Spectrum of random continuous signals, Spectrum calculation due to the method of periodogram and the method sub-banding coding and following FFT, Apparatus for interference measuring, Results of interference measuring. In the practical part 5 and 6, there are measuring results of chosen electronic parts, transport and interference characteristics and they are compared with theoretical presumptions.
Klíčová slova:
měření šumu; spektrální hustota výkonu; šum 1/f; 1/f noise; měření šumu; power spectral density
Instituce: Vysoké učení technické v Brně
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/2425