Název: The Role of Microstructure in Fracture Resistence Control of TiAl Based Intermetallics
Autoři: Dlouhý, Ivo ; Haga, H. ; Chlup, Zdeněk ; Hadraba, Hynek ; Hasegawa, M. ; Fukutomi, H.
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: New Methods of Damage and Failure Analysis of Structural Parts, Ostrava (CZ), 2012-09-10 / 2012-09-14
Rok: 2012
Jazyk: eng
Abstrakt: The analysis of the role of microstructure in fracture performance of TiAl intermetalics at room and elevated temperatures has been carried out. For Ti-46Al-0.7Cr-0.1Si-7Nb-0.2Ni alloy different regimes of thermal and thermal-mechanical treatment were applied enabling to control substantially microstructural parameters. Attention was paid to grain (colony) size effect, effect of lamellas thickness and morphology and, in addition, to β-phase effect. For separate treatment regimes the flexural strength and fracture toughness were evaluated in addition to microstructural parameters. Fractographic analysis enabled to evaluate fracture micromechanisms; development of shear ligament toughening was observed in almost all cases. This is the key mechanism controlling the fracture behaviour. Based on findings obtained key aspects of the effect of separate microstructural components have been discussed.
Klíčová slova: fracture toughness; intermetalics; micromechanisms of fracture; TiAl
Číslo projektu: ME10117 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA MŠk
Zdrojový dokument: New Methods of Damage and Failure Analysis of Structural Parts, ISBN 978-80-248-2802-2

Instituce: Ústav fyziky materiálů AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0211316

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-135425


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav fyziky materiálů
Konferenční materiály > Příspěvky z konference
 Záznam vytvořen dne 2013-01-04, naposledy upraven 2021-11-24.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet