|
|
Interaction of organic molecules with metal passivated semiconductor surfaces studied via STM
Zimmermann, Petr ; Sobotík, Pavel (vedoucí práce) ; Plšek, Jan (oponent) ; Šikola, Tomáš (oponent)
Název Studium interakce organických molekul na kovem pasivovaných površích křemíku pomocí STM Autor Petr Zimmermann Katedra / Ústav Katedra fyziky povrchů a plazmatu Vedoucí doktorské práce Doc. RNDr. Pavel Sobotík, CSc. Katedra fyziky povrchů a plazmatu Abstrakt Organické molekuly vykazují celou řadu optických, elektronických či chemických vlastností. Vhodnou integrací s křemíkem by tak mohly umožnit vznik zcela nových druhů zařízení. Řízená funkcionalizace křemíku organickými molekulami je však pro- blematická kvůli přítomnosti vysoce reaktivních vazeb na jeho površích. V této práci zkoumáme možnosti snížení reaktivity křemíkových povrchů pomocí ultratenkých vrs- tev kovových adsorbátů a s využitím řádkovací tunelové mikroskopie studujeme, jak s nimi interagují organické molekuly. V první části zkoumáme interakci ethylenu, malé nenasycené molekuly, s cínovými a indiovými 1D řetízky na Si(001) - 2 × 1. Tyto řetízky jsou tvořeny dimery, jež mají strukturu analogickou s křemíkovými dimery tvo- řící Si(001) - 2 × 1. Ukázalo se, že cínové řetízky jsou méně reaktivní než samotný Si(001) povrch a dále že absence π vazby v indiovém dimeru způsobuje, že indiové řetízky jsou pro etylen inertní. V druhé části pak zkoumáme interakci fthalocyaninu mědnatého (CuPc), malé makrocyklické heteroaromatické sloučeniny, na...
|
|
|
Studium morfologie velmi tenkých vrstev XPS analýzou více spektrálních čar jednoho prvku
Pokorný, David ; Šik, Ondřej (oponent) ; Polčák, Josef (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá metodologií určení tloušťky tenké vrstvy pomocí rentgenového záření stříbrné anody, která poskytuje záření o energii 2984,3 eV. Tato, oproti standardní hliníkové anodě, přibližně dvojnásobná hodnota energie přináší možnost zkoumat ve spektru nové čáry s vyšší vazebnou energií, a také vzhledem k vyšší energii emitovaných fotoelektronů i větší informační hloubku. Pro získání správných výsledků bylo nejprve potřeba provést kalibraci spektrometru Kratos Axis Supra v režimu stříbrné anody a získat potřebnou podobu trasmisní funkce. Samotné určení tloušťky tenké vrstvy bylo provedeno pomocí srovnání poměru intenzit různých čar fotoelektronového spektra s teoretickým modelem. Konkrétně bylo využito peaků Si 1s a Si 2p vázaných v substrátu ve vazbě Si-Si, případně v tenké oxidové vrstvě ve vazbě Si-O. Výsledky ukazují, že pro určení tloušťky tenké vrstvy SiO2/Si je nejlepší využít poměr intenzit pouze jednoho peaku. Stříbná anoda ovšem přináší výhodu ve větší informační hloubce.
|
|
|
Usage Of Low Cost Digital Camera For
Detecting Of Silicon Solar Cell
Electroluminiscence
Lepík, Pavel ; Vaněk, Jiří
This article analyses the existing methods both practically and theoretically used to detect defected surface area in solar cells. Various methods were used but by using an upgraded camera with CMOS sensor for carrying out the electroluminescence method, this has proven to have a very crucial impact on the results. Given the overall results and the acquired information, a procedure with a simple parameter can be setup to carry out the measurements. In addition to this a catalog was formed showing the defects occurring in mono and polycrystalline solar cells.
|
|
|
Local Isolation Of Microscale Defective Areas
In Monocrysline Silicon Solar Cells
Gajdos, Adam
This article is aimed on characterization of silicon solar cells microstructural inhomogeneities. To detect inhomogeneity or imperfection, reverse biased current voltage (I-V) measurement is used. These imperfections in some cases may cause avalanche type of breakdown, that can be visible in I-V curve. Therefore, the fact that certain imperfections emit light is used for localization needs. Raw localization is provided by electroluminescence (EL) method. Near-field scanning microscopy (SNOM) combined with photomultiplier tube is used for microscale localization. Both methods are done in reverse bias. Isolation of inhomogeneity by focused ion beam (FIB) is avoiding leakage current flow through it.
|
|
|
Thermal desorption spectroscopy in prototype furnace for chemical vapor deposition
Průcha, Lukáš ; Daniel, Benjamin ; Piňos, Jakub ; Mikmeková, Eliška
Cleaning of the sample surfaces is crucial for scanning electron microscopy, especially for\nlow energy electron microscopy or for the deposition of thin layers, such as graphene,\nwhere surface has to be well prepared. In the best case, every unwanted particle should be\ncleaned from the sample surface for best low energy electron microscopy observation or thin\nfilm deposition. Unfortunately, the standard cleaning procedures can leave residues on the\nsample surface. This work is focused on thermal desorption spectroscopy (TDS). TDS is a method of observing desorbed molecules from a sample surface during the increase of\ntemperature of the sample. The aim of this study was to determine optimum conditions:\ntemperature and time, to achieve clean surfaces in the shortest time.
|
|
|
Luminiscenční diagnostika fotovoltaických článků
Stojan, Radek ; Frantík, Ondřej (oponent) ; Šály,, Vladimír (oponent) ; Vaněk, Jiří (vedoucí práce)
Diagnostika vad fotovoltaických článků patří ke stěžejním krokům jejich výroby. Předkládaná dizertační práce pojednává o diagnostice fotovoltaických článků pomocí zářivé rekombinace párů elektron – díra, jenž nazýváme luminiscence. Diagnostické metody využívající této lokální emise světla v infračervené oblasti mají velký inovativní potenciál. Metoda elektroluminiscence patří mezi nejpoužívanější luminiscenční metody, jejíž modifikace se používají napříč elektrotechnickým průmyslem, zvláště pak polovodičovým. Stěžejní oblast výzkumu této práce je zaměřena na nedestruktivní analýzu vyzařovaného infračerveného záření monokrystalických a polykrystalických solárních článků při různých modifikacích standardní metody elekroluminiscence. Jako detektory odezvy luminiscenčního záření jsou v rámci práce aplikovány dva typy CCD kamer. Při použití mikroskopické metody elektroluminiscence je analyzován faktor zvětšení zobrazení lokální emise v mikroploše článku a diskutován jeho přínos v kvalitativním hodnocení defektivity článku. Luminiscenční záření emitované solárními články má vlnovou povahu, což přináší potenciální možnost využití některých charakteristických vlastností vlnění jako intenzity a nově polarizace v průběhu detekce defektů v ploše solárních článků. Inovace měřícího pracoviště standardní metody elektroluminiscence k využití polarizační analýzy je jedním z cílů této práce.
|
|
|
Studium katalytické dekompozice oxidu křemičitého
Štubian, Martin ; Kolíbal, Miroslav (oponent) ; Bábor, Petr (vedoucí práce)
Táto práca sa zoberá štúdiom reakcie katalytickej dekompozície kremíka použitím elektrónovej mikroskopie a Augerovej spektroskopie. Práca je zameraná primárne na štúdiom fázy Au-Si, ktorá pri reakcii vzniká. V teoretickej časti je popísaný princíp použitých metód a rešerš na katalytické dekompozície kremíka. V praktickej časti sú uvedené výsledky meraní a ich interpretácie.
|
|
|
Studium nikl-silicidové vrstvy vytvořené přetavením Ni Si vrstvy nanesené elektrochemicky
Petr, Jiří ; Pantělejev, Libor (oponent) ; Jan, Vít (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá možností vytvoření kompaktní nikl-silicidové vrstvy na austenitických substrátech. Teoretická část obsahuje popis různých povrchových úprav, dělení silicidů, a základní principy elektronového svazku. Experimentální část obsahuje popis použitých experimentálních metod pro vyhodnocení vzorků, dále tvorbu Ni-Si povlaku pomocí galvanického pokovení, a použitých parametrů svazku pro přetavení povlaku vzorků. Následuje vyhodnocení výsledné struktury a hodnot mikrotvrdosti vrstvy.
|
|
|
Influence of Si surface passivation on growth and ordering of nanostructures
Matvija, Peter ; Kocán, Pavel (vedoucí práce) ; Rezek, Bohuslav (oponent) ; de la Torre, Bruno (oponent)
Kremík je v súčasnosti najpoužívanejší polovodičový materiál, ktorého aplikácie siahajú od solárnych článkov a senzorov po elektronické zariadenia. Funkcionalizácia povrchu pomocou molekulárnych vrstiev môže vylepšiť vlastnosti kremíkového povrchu a môže zmenšiť veľkosť funkčných prvkov elektronických zariadení. Avšak, nájdenie spôsobu akým molekuly naviazať na konkrétne miesta na povrchu a nájdenie spôsobu akým molekuly usporiadať na kremíkových povrchoch nie je ľahké kvôli vysokej reaktivite kremíku. V tejto práci používame skenovací tunelový mikroskop, ab-initio výpočty a kinetické Monte Carlo simulácie a študujeme adsorpciu organických molekúl na čistom a táliom pasivovanom povrchu Si(111). Ukazujeme, že polarita molekúl má veľký dopad na spôsob naviazania molekúl na čistý povrch. Naše pozorovania dokazujú, že v porovnaní s čistým povrchom sú molekuly a jedno-atomárne adsorbáty na pasivovanom povrchu výrazne mobilnejšie. Zvýšená mobilita molekúl spôsobuje vytvorenie 2D plynu na povrchu a umožňuje tvorbu samousporiadaných molekulárnych štruktúr. V práci navrhujeme novú metódu pre priame pozorovanie 2D molekulárneho plynu a ukazujeme, že pomocou nehomogénneho elektrického poľa je možné kontrolovať fázu molekúl na povrchu, v prípade že tieto molekuly na seba viažu dipólový moment. 1
|
|
|
Elektrochemické leptání křemíku
Vrzal, Pavel ; Voborný, Stanislav (oponent) ; Šamořil, Tomáš (vedoucí práce)
Elektrochemické leptání nachází uplatnění při modifikaci polovodičových materiálů. Pomocí této metody lze připravit širokou škálu struktur, které lze využít v biotechnologiích, nanotechnologiích nebo elektronice. Mezi tyto struktury patří porézní křemík. Úkolem bakalářské práce byla příprava porézního křemíku pomocí elektrochemického leptání a studium jeho vlastností. Nejdříve byla provedena obecná studie, ve které byla věnována pozornost vlastnostem porézního Si a možnostem jeho výroby. Experimentální část se zabývá návrhem leptací cely pro elektrochemické leptání a přípravou porézního křemíku chemickou a elektrochemickou metodou. Vytvořené struktury byly následně analyzovány pomocí rastrovací elektronové mikroskopie. Pozornost byla také zaměřena na fotoluminiscenční vlastnosti porézního křemíku.
|
host ::
RSS.