|
| |
|
|
Near-field excited photoluminescence mapping
Klok, Pavel ; Ledinský, Martin (referee) ; Dvořák, Petr (advisor)
Tato práce se zabývá mapováním fotoluminiscence (PL) pomocí buzení blízkého pole (NF), které slouží ke zkoumání optoelektronických vlastností v nanometrovém měřítku. Díky překonání omezení tradičních optických technik v dalekém poli zkoumá jevy na menších rozměrech, které by jinak byly nedostupné. Hlavní důraz je kladen na NF rastrovací optickou mikroskopii, která umožňuje pozorování poddifrakčních jevů u studovaných vzorků. Významným přínosem této práce je zavedení časově rozlišitelného mapování PL v NF, tedy průlomové metody pro studium dynamických procesů pod hranicí difrakce. Tento přístup představuje nový přínos pro tento obor, což potvrzuje i přehled literatury uvedený v této práci. Díky pečlivému vyhodnocení a interpretaci měření PL tato práce rozšiřuje naše znalosti o optických vlastnostech olovnatých halogenidových perovskitů a jejich potenciálních aplikacích např. pro solární články. Dále odhaluje dosud neprozkoumané možnosti v oblasti časově rozlišitelného mapování PL v NF a poskytuje dosud nevídaný náhled do dynamických procesů pod difrakčním limitem. Posunutím hranic optického výzkumu na úrovni nanorozměrů vytváří tato diplomová práce základ pro nové směry zkoumání v této oblasti.
|
|
| |
|
| |
guest ::
