|
|
Defect localization and analysis in GaN
Gazdík, Richard ; Šik, Ondřej (referee) ; Bábor, Petr (advisor)
Táto diplomová práca sa zaoberá lokalizáciou a analýzou vláknových dislokácií v epitaxných vrstvách GaN. Práca je rozdelená na dve časti - teoretickú a experimentálnu. V teoretickej časti je vysvetlený pôvod a povaha vláknových dislokácií. Okrem toho kladie základy pre lepšie pochopenie možno menej známych techník, ktoré sa dajú použiť na ich štúdium - zobrazovanie elektrónového kanálovacieho kontrastu a selektívne leptanie defektov. V experimentálnej časti sú popísané postupy vykonané pri realizácii týchto techník, ako aj pre TEM zobrazovanie difrakčného kontrastu a s ním spojenej prípravy vzoriek pomocou FIB. Ukazujeme, že každá z týchto techník sa môže použiť samostatne na charakterizáciu vláknových dislokácií, ale že ich kombináciou je možné získať doplňujúce informácie.
|
|
|
Framework for Analysis of Changes in Data Structures of Core Routers
Bednářová, Marie ; Martínek, Tomáš (referee) ; Matoušek, Jiří (advisor)
Páteřní směrovače jsou síťová zařízení, která v kontextu výkonnosti musejí držet krok s požadavky nových internetových služeb a aplikací. Jeden z faktorů, který výkonnost směrovače ovlivňuje, je klasifikační algoritmus, který je součástí procesu přeposílání příchozích paketů na základě jejich cílové IP adresy. Každá adresa je předložena Forwarding Information Base (FIB), která implementuje algoritmus Longest Prefix Matching (LPM) - hledání nejdelšího shodného prefixu. FIB tabulka obsahuje prefixy všech dosažitelných sítí z daného směrovače a na základě poskytnuté IP adresy pak rozhodne, kam daný paket dále přeposlat, aby dorazil na místo určení. Existuje několik LPM algoritmů s různými vlastnostmi, jako je rychlost vyhledávání, náročnost na paměť, náročnost na aktualizaci, a další. FIB tabulka se v průběhu provozu směrovače aktualizuje na základě změn ve Routing Information Base (RIB). Tyto změny jsou prováděny na základě směrovacích informací, které si mezi sebou směrovače vyměňují. Z těchto poznatků vychází téma této práce, které se věnuje tomu jak, dynamické jsou změny datových struktur FIB tabulek v páteřních směrovačích. Tato práce se věnuje návrhu a implementaci frameworku, který je možné použít jako pomocný nástroj pro vyhodnocování LPM algoritmů, na základě toho, jak daný algoritmus mění datové struktury FIB tabulek v páteřních směrovačích. Test je prováděn pomocí simulace, kdy LPM algoritmus je nejprve umístěn do zjednodušeného modelu směrovače jako implementace FIB tabulky. Poté, na základě zpráv protokolu BGP (Border Gateway Protocol), bude algoritmus aktualizovat datovou strukturu FIB tabulky. Celá simulace je monitorována a účinky změn jsou zaznamenávány. Na konci simulace jsou poskytnuty výsledné statistiky. Framework dále umožňuje změnit implementaci LPM algoritmu a také nastavení samotné simulace. Nakonec je funkčnost frameworku prověřena na základě experimentů.
|
|
|
Large area delayering
Mezera, Petr ; Adámek, Martin (referee) ; Búran, Martin (advisor)
This work deals with the design of a model workflow for the planar delayering of large areas. The work describes the general design of integrated circuits, as well as the most basic possibilities of their packaging. Then, an overview of the methods used for delayering semiconductor chips, their advantages, principles or limitations was made. Current trends in semiconductor chip delamination are presented. The FIB and BIB methods are then discussed in detail. Furthermore, model workflows for planar layer delayering have been proposed. The methods were applied to prepared samples and the results were discussed, compared and measures for possible improvement were recommended.
|
|
|
Preparation and testing of SNOM probes
Bobek, Juraj ; Pavera, Michal (referee) ; Spousta, Jiří (advisor)
The area of research that deals with surface modification and preparation of nanostructures is still very unexplored. And only a little contribution to this field is discussed in this bachelor thesis. Its goal is to manufacture and to test a probe made off hollow optical fibre that is used in Scanning Probe Microscopy. Optical fibre parameters in combination with proper and unique techniques allow the breakthrough off very interesting applications. It's worth mentioning the gas injection in the proximity of the surface of a sample (GIS) and thus its modification by use of electrons (FEBID), ions (FIBID) or laser beams.
|
|
|
Application of correlative AFM/SEM microscopy
Hegrová, Veronika ; Fejfar, Antonín (referee) ; Konečný, Martin (advisor)
This thesis is dealing with application of Correlative Probe and Electron Microscopy. All measurements were carried out by atomic force microscope LiteScope which is designed especially to be combined with electron microscopes. Advantages of Correlative AFM/SEM Microscopy are demonstrated on selected samples from field of nanotechnology and material science. Application of the correlative imaging was proposed and then realized particularly in case of low-dimensional structures and thin films. Further, this thesis deals with the possibility of combining Correlative AFM/SEM Microscopy with other integrated techniques of an electron microscope such as Focused Ion Beam and Energy Dispersive X-rays Spectroscopy.
|
|
|
Characterization of PVDF material in nanoscale resolution
Pisarenko, Tatiana ; Dallaev, Rashid (referee) ; Sobola, Dinara (advisor)
Tato práce se zabývá charakterizací nanovláken na bázi polyvinylidenfluoridu. Zaměření práce je na piezoelektrické vlastnosti vlákna, které jsou studovány metodou piezoelektrické silové mikroskopie. Takto byly měřeny dva typy odlišných vzorků, které se lišily v parametrech výroby. Odlišnosti vláken v jejich fázovém složení byly také zkoumány za využití Ramanovy spektroskopie a infračervené spektroskopie s Fourierovou transformací. Chemická analýza povrchu a jeho stavu proběhla pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie. Různé uspořádání nanovláken spolu s jejich průřezem bylo pozorováno rastrovacím elektronovým mikroskopem za využití fokusovaného iontového svazku. Rovněž byla zkoumána smáčivost a kontaktní úhel povrchu vzorků s demineralizovanou vodou. Bylo zjištěno, že vyšší rychlost otáček válce během procesu elektrostatického zvlákňování má velmi významný vliv na jejich uspořádání a tím i na parametry ovlivňující tvorbu piezoelektrického jevu a dalších materiálových vlastností.
|
|
|
Analysis of locally modified surfaces for selective growth of cobalt
Krajňák, Tomáš ; Bábor, Petr (referee) ; Čechal, Jan (advisor)
In this thesis the chemical composition of silicon substrates locally modified by focused gallium ion beam by X-ray photoelectron spectroscopy is determined. In order to determine the influence of focused ion beam, the sample comprising sputtered square areas with nominal depths in range of 1 to 10 nm was prepared. Next, the sample was heated to elevated temperatures (500 - 700 °C) to reveal changes in the sputtered areas induced by annealing. In this work by X-ray photoelectron spectrometer Kratos Supra and electron microscope Tescan LYRA3 with focused ion beam were used. From the measured spectra of the Si 2p and Ga 2p3/2 peaks measured as a function of nominal sputtering depth and annealing temperature the following main observations were obtained. First, there is the additional peak component in the Si 2p peak, which can be assigned to the amorphous silicon. The second important finding is that gallium can be removed from near surface volume by annealing at temperatures beyond 700 °C.
|
|
|
Excitation and detection of plasmon polaritons
Brtek, Tomáš ; Kalousek, Radek (referee) ; Tomanec, Ondřej (advisor)
Behavior of surface plasmon polaritons and localized surface plasmons is strongly dependent on parametres of metalic surfaces and on parametres of structures created on the surfaces. This work deals with plasmonics mainly in the field of producing structures for plasmonics resonant systems, which might be suitable for excitation of surface plasmons by modified scanning tunneling microscopy. Final structures made for this purpose were described. Techniques for the excitation of plasmons are presented.
|
|
|
Fabrication, optimization and in-situ characterization of thermally tunable vanadium dioxide nanostructures
Krpenský, Jan ; Maniš, Jaroslav (referee) ; Konečná, Andrea (advisor)
Oxid vanadičitý (VO2) přilákal v posledních desetiletích zvýšenou pozornost kvůli svému fázovému přechodu kov-izolant na teplotě okolo 68 °C. Tento fázový přechod je provázen změnou krystalové mříže z monoklinické (dielektrikum) na tetragonální (kov), smrštěním krystalové mříže v kovové fázi a výrazným rozdílem mezi transmisivitou v infračervené oblasti mezi oběma fázemi. Avšak výroba VO2 může být náročná kvůli jiným možným stochiometrickým konfiguracím jako je VO, V2O3 nebo V2O5. V posledních letech bylo použito mnoho výrobních technik, u kterých optimalizace výrobního procesu produkuje VxOy v požadované VO2 stochiometrii. V této práci je uvedeno shrnutí tří technik vhodných pro depozici tenkých vrstev VO2 a je popsán proces výroby tenkých vzorků (lamel), které jsou vhodné pro studium v transmisním elektronovém mikroskopu (TEM), pomocí fokusovaného iontového svazku (FIB). Použití TEM se zahříváním uvnitř komory pro charakterizaci VO2 vzorků produkuje cenné informace o mikrostruktuře VO2 pod i nad teplotou přechodu. Navíc dává spektroskopie energiových ztrát elektronů cenný vhled do změn různých stochiometrií VO2 v souvislosti s tloušťkou zkoumaného vzorku, zejména blízko hrany vzorku.
|
|
|
Design and Testing of methodology for in-situ sample cleaning for low voltage electron microscopy
Rudolfová, Zdena ; Vávra,, Ivo (referee) ; Kolíbal, Miroslav (advisor)
This thesis concentrates on the methodology of semiconductor samples preparation for low voltage scanning electron microscopy. In the first part a detailed theory of sample imaging using electron beam and difference between classical scanning electron microscopy (SEM) and low voltage scanning electron microscopy (LVSEM) is described. It is given a description of a contrast formation in SEM and LVSEM and theories describing a contrast formation of differently doped semiconductors. The second part contains experimental data. The advantages and disadvantages of cleavage and focused ion beam (FIB) milling as sample preparation techniques are discussed. FIB was found as the best method for sample preparation for the analysis of precisely defined location on the sample. It is necessary to use the lowest possible FIB accelerating voltage for final polishing, ideally 1 kV.
|
guest ::
