keywords:"white-light interferometry" - Výsledky hledání - Digitální repozitář

host :: přihlásit Digitální repozitář
		Hledej		Nový záznam		Nápověda		O repozitáři

Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"white-light interferometry"

Hledej:

Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání

Hledej ve sbírkách:

Seřadit podle:	Zobrazit výsledky:	Výstupní formát:

	Height profile measurement by means of white-light interferometry Pavlíček, Pavel White-light interferometer measures the heigh profile of smooth as well of rough surfaces, this feature renders it suitable for the technical practice. Úplný záznam
	Height profile measurement by means of white-light interferometry Pavlíček, Pavel White-light interferometry is an established method for the height-profile measurement of rough surface. we show the results of the heigh-profile measurement of silicon waters. Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.

Digitální repozitář :: :: :: ::
Powered by v1.1.2
Spravuje

Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky English