Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"silicon monocrystal"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Silicon monocrystal wafers ground with various abrasive materials
 Havelková, Martina ; Hiklová, Helena
The paper describes measuring of silicon wafers surface. Row of samples were made for different purposes in Themis (Rožnov pod Radhoštěm). The measuring were done with Form Talysurf Series 2 apparatus and the dependence on different conditions of cutting and grinding were monitored.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English