Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Využití mikroskopu k diagnostice struktury materiálu a poruch u el. zařízení
Cvak, Jan ; Hájek, Vítězslav (oponent) ; Veselka, František (vedoucí práce)
Cílem této práce je popsat možnosti využití mikroskopu pro dokumentaci vad a inovací elektrických strojů. Použil jsem elektronový mikroskop pro zdokumentování uhlíkových kartáčů a nanomateriálů pro možnou inovaci kluzného kontaktu. Využití mikroskopů nám dává detailnější informace o struktuře materiálů, v místech největšího namáhání elektrického stroje. Na základě zjištěných údajů, lze pokračovat v analýze a inovaci uhlíkového kartáče.
Využití mikroskopu k diagnostice struktury materiálu a poruch u el. zařízení
Cvak, Jan ; Hájek, Vítězslav (oponent) ; Veselka, František (vedoucí práce)
Cílem této práce je popsat možnosti využití mikroskopu pro dokumentaci vad a inovací elektrických strojů. Použil jsem elektronový mikroskop pro zdokumentování uhlíkových kartáčů a nanomateriálů pro možnou inovaci kluzného kontaktu. Využití mikroskopů nám dává detailnější informace o struktuře materiálů, v místech největšího namáhání elektrického stroje. Na základě zjištěných údajů, lze pokračovat v analýze a inovaci uhlíkového kartáče.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.