|
|
Band Gap - přesná napěťová reference
Bubla, Jiří ; Petržela, Jiří (oponent) ; Kolka, Zdeněk (vedoucí práce)
Projekt je zaměřený na návrh přesné napěťové reference Bandgap v technologii monolitických integrovaných obvodů. Tento obvod se vyznačuje velmi nízkým teplotním koeficientem v řádu jednotek ppm/°C a napětím blízkým 1,205V. Práce obsahuje podrobné odvození funkce, několik principiálních zapojení, metody kompenzace závislosti referenčního napětí na teplotě a procesních vlivech, návrh Brokawovy a Gilbertovy reference, návrh testovacího čipu pro měření parametrů Brokawovy reference a výsledky měření.
|
|
|
Návrh napěťové reference v technologii ONSemi I3T
Pěček, Lukáš ; Prokop, Roman (oponent) ; Kledrowetz, Vilém (vedoucí práce)
Napěťové reference tvoří základní součást většiny integrovaných obvodů. Cílem této práce je popsat jejich princip a v technologii ONSemi I3T25 navrhnout kompletní obvod reference včetně layoutu. Byla navržena bandgap napěťová reference s výstupním napětím 1,25 V a s předstabilizací napětí. Pro zvýšení přesnosti byl použit pětibitový trimovací obvod.
|
|
|
Návrh napěťové reference v technologii ONSemi I3T
Pěček, Lukáš ; Prokop, Roman (oponent) ; Kledrowetz, Vilém (vedoucí práce)
Napěťové reference tvoří základní součást většiny integrovaných obvodů. Cílem této práce je popsat jejich princip a v technologii ONSemi I3T25 navrhnout kompletní obvod reference včetně layoutu. Byla navržena bandgap napěťová reference s výstupním napětím 1,25 V a s předstabilizací napětí. Pro zvýšení přesnosti byl použit pětibitový trimovací obvod.
|
|
|
Band Gap - přesná napěťová reference
Bubla, Jiří ; Petržela, Jiří (oponent) ; Kolka, Zdeněk (vedoucí práce)
Projekt je zaměřený na návrh přesné napěťové reference Bandgap v technologii monolitických integrovaných obvodů. Tento obvod se vyznačuje velmi nízkým teplotním koeficientem v řádu jednotek ppm/°C a napětím blízkým 1,205V. Práce obsahuje podrobné odvození funkce, několik principiálních zapojení, metody kompenzace závislosti referenčního napětí na teplotě a procesních vlivech, návrh Brokawovy a Gilbertovy reference, návrh testovacího čipu pro měření parametrů Brokawovy reference a výsledky měření.
|
host ::
RSS.