Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Microstresses and x-ray diffraction
Drahokoupil, J. ; Čerňanský, Marian ; Ganev, N. ; Kolařík, K. ; Pala, Z.
The description of an influence of microstresses and macrostresses on diffraction line profiles. Depth distribution of residual stresses in the shot-peened steel obtained by X-ray diffraction.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.