Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"microradian"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
SMV-2013-04: Systém pro měření úhlů na ELI manipulátorech
 Jedlička, Petr ; Lazar, Josef ; Řeřucha, Jan ; Šarbort, Martin
Systém měří úhel natočení zrcadla s přesností v řádu desetiny mikroradianu. Využívá se změna polohy odraženého laserového svazku, která se snímá pomocí CCD chipu.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English