keywords:"lokální anodická oxidace" - Výsledky hledání - Digitální repozitář

host :: přihlásit Digitální repozitář
		Hledej		Nový záznam		Nápověda		O repozitáři

Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"lokální anodická oxidace"

Hledej:

Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání

Hledej ve sbírkách:

Seřadit podle:	Zobrazit výsledky:	Výstupní formát:

	Studium selektivního růstu kovů na matrici připravené pomocí AFM nanolitografie Konečný, Martin ; Mach, Jindřich (oponent) ; Bartošík, Miroslav (vedoucí práce) Tato bakalářská práce je zaměřená na přípravu nanostruktur s využitím mikroskopu atomárních sil. Teoretická část pojednává o základních principech mikroskopu atomárních sil a o fyzikálním principu lokální anodické oxidace. Experimentální část je zaměřená na analýzu nanostruktur vytvořených lokální anodickou oxidací, na měření povrchového potenciálu na připravených nanostrukturách a na selektivní růst kovů na matrici připravenou lokální anodickou oxidací. Úplný záznam
	Studium síly nutné k odtržení hrotu AFM od povrchu grafitové/graphenové vrstvy s ohledem na aplikace v oblasti nanosenzorů Pagáčová, Lenka ; Nebojsa, Alois (oponent) ; Bartošík, Miroslav (vedoucí práce) Tato diplomová práce uvádí metodu silové spektroskopie jako nástroj ke studiu adhezních vlastností materiálů. Pomocí silové spektroskopie byla stanovena síla nutná k odtržení hrotu AFM od povrchu grafitové/grafenové vrstvy při různých podmínkách. Dále je popsána metoda kontaktního úhlu, na jejíž základě byly určeny hodnoty kontaktních úhlů vody pro šest vyšetřovaných vzorků. Závěry obou metod byly diskutovány zhlediska použití silové spektroskopie jako metodu detekce míry hydrofilnosti resp. hydrofobnosti látek. V závěru je provedena modifikace grafenové vrstvy pomocí lokální anodické oxidace. Úplný záznam
	Selektivní růst GaN na SiN Hulva, Jan ; Kolíbal, Miroslav (oponent) ; Mach, Jindřich (vedoucí práce) Tato bakalářská práce se zabývá selektivním růstem gallia a gallium nitridu na substrátech nitridu křemíku. Depozicí nízkoenergiových dusíkových iontů je na křemíkovém substrátu vytvořena vrstva nitridu křemíku (SiN). Na této vrstvě jsou litografickou metodou lokální anodické oxidace (LAO) připraveny oxidové struktury. Tyto substráty mohou být dále modifikovány odleptáním oxidových struktur kyselinou fluorovodíkovou. Modifikované substráty jsou použity pro depozici gallia nebo gallium nitridu v podmínkách ultravysokého vakua. Poté je studováno uspořádávání deponovaného materiálu v oblastech povrchů modifikovaných LAO. Chemické složení vrstev je studováno pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS) a úhlově závislé XPS (AR-XPS), morfologie povrchů je měřena pomocí mikroskopu atomárních sil (AFM). Úplný záznam
	Studium síly nutné k odtržení hrotu AFM od povrchu grafitové/graphenové vrstvy s ohledem na aplikace v oblasti nanosenzorů Pagáčová, Lenka ; Nebojsa, Alois (oponent) ; Bartošík, Miroslav (vedoucí práce) Tato diplomová práce uvádí metodu silové spektroskopie jako nástroj ke studiu adhezních vlastností materiálů. Pomocí silové spektroskopie byla stanovena síla nutná k odtržení hrotu AFM od povrchu grafitové/grafenové vrstvy při různých podmínkách. Dále je popsána metoda kontaktního úhlu, na jejíž základě byly určeny hodnoty kontaktních úhlů vody pro šest vyšetřovaných vzorků. Závěry obou metod byly diskutovány zhlediska použití silové spektroskopie jako metodu detekce míry hydrofilnosti resp. hydrofobnosti látek. V závěru je provedena modifikace grafenové vrstvy pomocí lokální anodické oxidace. Úplný záznam
	Selektivní růst GaN na SiN Hulva, Jan ; Kolíbal, Miroslav (oponent) ; Mach, Jindřich (vedoucí práce) Tato bakalářská práce se zabývá selektivním růstem gallia a gallium nitridu na substrátech nitridu křemíku. Depozicí nízkoenergiových dusíkových iontů je na křemíkovém substrátu vytvořena vrstva nitridu křemíku (SiN). Na této vrstvě jsou litografickou metodou lokální anodické oxidace (LAO) připraveny oxidové struktury. Tyto substráty mohou být dále modifikovány odleptáním oxidových struktur kyselinou fluorovodíkovou. Modifikované substráty jsou použity pro depozici gallia nebo gallium nitridu v podmínkách ultravysokého vakua. Poté je studováno uspořádávání deponovaného materiálu v oblastech povrchů modifikovaných LAO. Chemické složení vrstev je studováno pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS) a úhlově závislé XPS (AR-XPS), morfologie povrchů je měřena pomocí mikroskopu atomárních sil (AFM). Úplný záznam
	Studium selektivního růstu kovů na matrici připravené pomocí AFM nanolitografie Konečný, Martin ; Mach, Jindřich (oponent) ; Bartošík, Miroslav (vedoucí práce) Tato bakalářská práce je zaměřená na přípravu nanostruktur s využitím mikroskopu atomárních sil. Teoretická část pojednává o základních principech mikroskopu atomárních sil a o fyzikálním principu lokální anodické oxidace. Experimentální část je zaměřená na analýzu nanostruktur vytvořených lokální anodickou oxidací, na měření povrchového potenciálu na připravených nanostrukturách a na selektivní růst kovů na matrici připravenou lokální anodickou oxidací. Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.

Digitální repozitář :: :: :: ::
Powered by v1.1.2
Spravuje

Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky English