|
|
Studium tloušťky tenkých vrstev organických materiálů
Hegerová, Lucie ; Veselý, Michal (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá stanovením tloušťky a indexu lomu tenkých vrstev organických filmů s použitím obrazové analýzy. V teoretické části jsou popsány principy metod, které jsou používány k přípravě tenkých vrstev (rotační nanášení, inkoustový tisk, vakuové napařování), vlastnosti tenkých vrstev, způsoby zjišťování tloušťky a indexu lomu látek (metody váhové, metody elektrické, metoda založená na měření koeficientu absorpce světla, interferenční mikroskopie, elipsometrie) a také obrazová analýza (harmonická a waveletová analýza) Pro stanovení tloušťky a indexu lomu byl použit interferenční mikroskop Epival – Interpako (Carl Zeiss Jena) v kombinaci s digitálním fotoaparátem Nikon Coolpix 5400 a počítačem. Byly určeny tloušťky vrstev z interferenčních obrazců hran a rýh a to jak ze strany kovového kontaktu tak i ze strany podložního sklíčka. Ze získaných hodnot byly určovány indexy lomu tenkých vrstev. V závěru práce jsou diskutovány výsledky interferenčních obrazců fotografovaných po celé délce hliníkového kontaktu určeném pro měření elektrických vlastností struktur s DPP. Výsledkem jsou pak tloušťky jednotlivých vrstev struktury (indexy lomu).
|
|
|
Studium disperzních závislostí indexu lomu pomocí interferenční mikroskopie
Schmiedová, Veronika ; Veselý, Michal (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Diplomová práce je zaměřena na studium optických vlastností tenkých transparentních vrstev organických materiálů (PPV, P3HT, TiO2, DPP), především na stanovení disperzních závislostí indexu lomu připravených vrstev. V teoretické části jsou popsány principy nanášení tenkých vrstev analyzovaných materiálů a jejich vlastnosti. Jsou zde také popsány metody měření optických vlastností (optická a interferenční mikroskopie, elipsometrie). Pro stanovení indexu lomu byl použit interferenční mikroskop v kombinaci s digitálním fotoaparátem. Ke stanovení parametrů byla využita obrazová analýza dat (pomocí programu HarFA). Byly analyzovány snímky tenkých vrstev zhotovené jak ze strany kovového kontaktu, tak ze strany skla. V závěru jsou popsány výsledky indexů lomu tenkých vrstev získaných z naměřených hodnot.
|
|
|
Návrh zobrazovací sestavy koherencí řízeného holografického mikroskopu
Dvořák, Vladislav ; Dostál, Zbyněk (oponent) ; Špaček, Matěj (vedoucí práce)
Výzkumná skupina Experimentální biofototoniky na VUT v Brně se dlouhodobě zabývá rozvojem koherencí řízeného holografického mikroskopu (CCHM). Pro potřeby dalšího rozvoje v této oblasti je třeba postavit otevřenou laboratorní verzi tohoto mikroskopu, který zde byl doposud zastoupen pouze v komerčním provedení. Tato práce se věnuje návrhu a sestavení jeho zobrazovací části. První část práce je věnována obecnému přehledu mikroskopických metod s důrazem na interferenční mikroskopii a na princip fungování CCHM mikroskopu. V druhé části jsou mezi sebou nejprve srovnávány mnou navržené koncepty optického uspořádání. Následně jsou vybrány optické komponenty a experimentálně změřeny jejich neznámé parametry. S využitím naměřených hodnot je provedeno trasování vybraného konceptu a představeno konstrukční řešení. Zobrazovací část mikroskopu byla na základě konstrukčního řešení sestavena a experimentálně ověřena.
|
|
|
Studium disperzních závislostí indexu lomu pomocí interferenční mikroskopie
Schmiedová, Veronika ; Veselý, Michal (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Diplomová práce je zaměřena na studium optických vlastností tenkých transparentních vrstev organických materiálů (PPV, P3HT, TiO2, DPP), především na stanovení disperzních závislostí indexu lomu připravených vrstev. V teoretické části jsou popsány principy nanášení tenkých vrstev analyzovaných materiálů a jejich vlastnosti. Jsou zde také popsány metody měření optických vlastností (optická a interferenční mikroskopie, elipsometrie). Pro stanovení indexu lomu byl použit interferenční mikroskop v kombinaci s digitálním fotoaparátem. Ke stanovení parametrů byla využita obrazová analýza dat (pomocí programu HarFA). Byly analyzovány snímky tenkých vrstev zhotovené jak ze strany kovového kontaktu, tak ze strany skla. V závěru jsou popsány výsledky indexů lomu tenkých vrstev získaných z naměřených hodnot.
|
|
|
Studium tloušťky tenkých vrstev organických materiálů
Hegerová, Lucie ; Veselý, Michal (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá stanovením tloušťky a indexu lomu tenkých vrstev organických filmů s použitím obrazové analýzy. V teoretické části jsou popsány principy metod, které jsou používány k přípravě tenkých vrstev (rotační nanášení, inkoustový tisk, vakuové napařování), vlastnosti tenkých vrstev, způsoby zjišťování tloušťky a indexu lomu látek (metody váhové, metody elektrické, metoda založená na měření koeficientu absorpce světla, interferenční mikroskopie, elipsometrie) a také obrazová analýza (harmonická a waveletová analýza) Pro stanovení tloušťky a indexu lomu byl použit interferenční mikroskop Epival – Interpako (Carl Zeiss Jena) v kombinaci s digitálním fotoaparátem Nikon Coolpix 5400 a počítačem. Byly určeny tloušťky vrstev z interferenčních obrazců hran a rýh a to jak ze strany kovového kontaktu tak i ze strany podložního sklíčka. Ze získaných hodnot byly určovány indexy lomu tenkých vrstev. V závěru práce jsou diskutovány výsledky interferenčních obrazců fotografovaných po celé délce hliníkového kontaktu určeném pro měření elektrických vlastností struktur s DPP. Výsledkem jsou pak tloušťky jednotlivých vrstev struktury (indexy lomu).
|
|
|
Studium indexu lomu tenkých vrstev pomocí interferenční mikroskopie
Procházka, Petr ; Veselý, Michal (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce je zaměřena na měření spektrálních závislostí indexu lomu tenkých vrstev. Cílem práce bylo proměření disperzních závislostí indexu lomu. Teoretická část pojednává o současných metodách měření indexu lomu a veličin s ním souvisejících. Tyto metody byly seřazeny od nejjednodušší až po nejnáročnější metodu, přičemž záměrem vlastní práce bylo dosáhnout výsledků pomocí velmi jednoduché metody interferenční mikroskopie. Byly zkoumány tenké vrstvy různých organických látek za použití optického, ale hlavně interferenčního mikroskopu pro stanovení jejich optických vlastností, resp. indexu lomu a jeho disperzních závislostí. Pomocí interferenčního mikroskopu a digitálního fotoaparátu byly poříze-ny snímky, které byly podrobeny obrazové analýze v programu HarFA. Zpracováním v tomto programu byly zjištěny disperzní závislosti indexu lomu.
|
host ::
RSS.