Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 4 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Osvětlovací soustava pro konfokální mikroskop s duálním rastrováním
Slabý, Tomáš ; Kršek, Jiří (oponent) ; Chmelík, Radim (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá možnostmi návrhu osvětlovací soustavy konfokálního mikroskopu s duálním rastrováním s využitím výkonných LED diod.
Automatizace metody měření povrchových struktur reflexním digitálním holografickým mikroskopem.
Vacula, Daniel ; Šerý, Mojmír (oponent) ; Lovicar, Luděk (vedoucí práce)
Reflexní digitální holografický mikroskop vyvinutý na ÚFI FSI VUT v Brně využívá principu mimoosové holografie s časově a prostorově nekoherentním osvětlením. Mikroskop umožňuje rekonstrukci nejen obrazové amplitudy, ale i obrazové fáze. To se děje prakticky v reálném čase. Jediným omezujícím kritériem je rychlost detekce obrazového hologramu a rychlost výpočetní techniky pro jeho zpracování. Díky rekonstrukci obrazové fáze a obrazové amplitudy lze provádět profilometrická měření s vysokým stupněm rozlišení v osovém směru. Tato diplomová práce se zabývá automatizací měřící metody, která využívá kombinaci fázového a amplitudového zobrazení, při měření vzorků s povrchovou strukturou jejíž výška způsobuje ve fázovém zobrazení neurčitost fáze s celočíselným násobkem 2pí. Součástí této práce je konstrukční návrh osvětlovací soustavy mikroskopu a experimentální ověření funkčnosti zautomatizovaní měřící metody.
Automatizace metody měření povrchových struktur reflexním digitálním holografickým mikroskopem.
Vacula, Daniel ; Šerý, Mojmír (oponent) ; Lovicar, Luděk (vedoucí práce)
Reflexní digitální holografický mikroskop vyvinutý na ÚFI FSI VUT v Brně využívá principu mimoosové holografie s časově a prostorově nekoherentním osvětlením. Mikroskop umožňuje rekonstrukci nejen obrazové amplitudy, ale i obrazové fáze. To se děje prakticky v reálném čase. Jediným omezujícím kritériem je rychlost detekce obrazového hologramu a rychlost výpočetní techniky pro jeho zpracování. Díky rekonstrukci obrazové fáze a obrazové amplitudy lze provádět profilometrická měření s vysokým stupněm rozlišení v osovém směru. Tato diplomová práce se zabývá automatizací měřící metody, která využívá kombinaci fázového a amplitudového zobrazení, při měření vzorků s povrchovou strukturou jejíž výška způsobuje ve fázovém zobrazení neurčitost fáze s celočíselným násobkem 2pí. Součástí této práce je konstrukční návrh osvětlovací soustavy mikroskopu a experimentální ověření funkčnosti zautomatizovaní měřící metody.
Osvětlovací soustava pro konfokální mikroskop s duálním rastrováním
Slabý, Tomáš ; Kršek, Jiří (oponent) ; Chmelík, Radim (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá možnostmi návrhu osvětlovací soustavy konfokálního mikroskopu s duálním rastrováním s využitím výkonných LED diod.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.