keywords:"environmentální rastrovací elektronový mikroskop (EREM)" - Výsledky hledání - Digitální repozitář

host :: přihlásit Digitální repozitář
		Hledej		Nový záznam		Nápověda		O repozitáři

Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"environmentální rastrovací elektronový mikroskop (EREM)"

Hledej:

Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání

Hledej ve sbírkách:

Seřadit podle:	Zobrazit výsledky:	Výstupní formát:

	Metoda napěťového kontrastu v EREM Krňávek, Martin ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce) Tato práce obsahuje teoretický popis základních vlastností a principu elektronové mikroskopie, se zaměřením na environmentální rastrovací elektronovou mikroskopii. Popisuje funkci mikroskopu, interakce probíhající po dopadu elektronového svazku na vzorek, především pak vznik zpětně odražených a sekundárních elektronů a metodu napěťového kontrastu. Praktická část se zabývá problematikou napěťového kontrastu pro sledování rozložení elektrických potenciálů na površích polovodičových součástek a stanovuje vhodné pracovní podmínky pro pozorování napěťového kontrasu pomocí scintilačního detektoru sekundárních elektronů. Úplný záznam
	Vyhodnocení vlivu tlaku v komoře vzorku a velikosti clonek na výsledný tlak u scintilátoru detektoru pomocí systému Cosmos FloWorks Bordovský, Petr ; Špinka, Jiří (oponent) ; Maxa, Jiří (vedoucí práce) Předkládaná práce se zabývá analýzou vlivu velikosti tlaku v komoře vzorku Enviromentálního rastrovacího elektronového mikroskopu a vlivu velikosti otvorů ve clonkách u scintilačního detektoru sekundárních elektronů pro EREM na výslednou velikost tlaku v komoře scintilátoru. Analýza probíhá na detektoru sekundárních elektronů vymodelovaném ve 3D CAD systému SolidWorks pomocí systému CAE Cosmos FloWorks. Úplný záznam
	Ionizační detektor pro EREM Černoch, David ; Špinka, Jiří (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce) Diplomová práce se zabývá vlivem vkládané mřížky mezi vzorek a ionizační detektor v environmentálním rastrovacím elektronovém mikroskopu. Při změnách tlaku, napětí na mřížce při různých vzdálenostech vzorek detektor a vzorek mřížka je měřena velikost relativní úrovně signálu. Vliv přídavné mřížky na detekovaný signál je simulován programem pro realné podmínky používaného ionizačního detektoru. Úplný záznam
	Metoda napěťového kontrastu v EREM Krňávek, Martin ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce) Tato práce obsahuje teoretický popis základních vlastností a principu elektronové mikroskopie, se zaměřením na environmentální rastrovací elektronovou mikroskopii. Popisuje funkci mikroskopu, interakce probíhající po dopadu elektronového svazku na vzorek, především pak vznik zpětně odražených a sekundárních elektronů a metodu napěťového kontrastu. Praktická část se zabývá problematikou napěťového kontrastu pro sledování rozložení elektrických potenciálů na površích polovodičových součástek a stanovuje vhodné pracovní podmínky pro pozorování napěťového kontrasu pomocí scintilačního detektoru sekundárních elektronů. Úplný záznam
	Metoda napěťového kontrastu v EREM Krňávek, Martin ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce) Tato práce obsahuje teoretický popis základních vlastností a principu elektronové mikroskopie, se zaměřením na environmentální rastrovací elektronovou mikroskopii. Popisuje funkci mikroskopu, interakce probíhající po dopadu elektronového svazku na vzorek, především pak vznik zpětně odražených a sekundárních elektronů a metodu napěťového kontrastu. Praktická část se zabývá problematikou napěťového kontrastu pro sledování rozložení elektrických potenciálů na površích polovodičových součástek a stanovuje vhodné pracovní podmínky pro pozorování napěťového kontrasu pomocí scintilačního detektoru sekundárních elektronů. Úplný záznam
	Vyhodnocení vlivu tlaku v komoře vzorku a velikosti clonek na výsledný tlak u scintilátoru detektoru pomocí systému Cosmos FloWorks Bordovský, Petr ; Špinka, Jiří (oponent) ; Maxa, Jiří (vedoucí práce) Předkládaná práce se zabývá analýzou vlivu velikosti tlaku v komoře vzorku Enviromentálního rastrovacího elektronového mikroskopu a vlivu velikosti otvorů ve clonkách u scintilačního detektoru sekundárních elektronů pro EREM na výslednou velikost tlaku v komoře scintilátoru. Analýza probíhá na detektoru sekundárních elektronů vymodelovaném ve 3D CAD systému SolidWorks pomocí systému CAE Cosmos FloWorks. Úplný záznam
	Ionizační detektor pro EREM Černoch, David ; Špinka, Jiří (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce) Diplomová práce se zabývá vlivem vkládané mřížky mezi vzorek a ionizační detektor v environmentálním rastrovacím elektronovém mikroskopu. Při změnách tlaku, napětí na mřížce při různých vzdálenostech vzorek detektor a vzorek mřížka je měřena velikost relativní úrovně signálu. Vliv přídavné mřížky na detekovaný signál je simulován programem pro realné podmínky používaného ionizačního detektoru. Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.

Digitální repozitář :: :: :: ::
Powered by v1.1.2
Spravuje

Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky English