Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 8 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
SMV-2023-58: Design elektronově optických systémů
Radlička, Tomáš
V rámci smluvního výzkum byla navržená nová generace systému pro detekci sekundárních elektronů v multibeam skenovacím elektronovém mikroskopu. Dále jsme popsali optické vlastnosti NiCol tubusu s hexapolovým korektorem sférické aberace.
SMV-2022-39: Návrh, simulace a verifikace elektronově optických systémů
Radlička, Tomáš
V rámci smluvního výzkum byl navržený systém pro detekci sekundárních elektronů v multibeam skenovacím elektronovém mikroskopu. Dále jsme pracovali na integraci a testech korektoru sférické aberace, který využívá diskontinuity elektrostatického pole na tenké grafénové membráně.
SMV-2021-43: Návrh a simulace elektronově optických systémů
Radlička, Tomáš
V rámci smluvního výzkum bylo zpracováno několik studií proveditelnosti týkajících se optických vlastností elektronově optických elementů, optimalizace jejich designu a jejich možné integrace do elektronového mikroskopu. Výzkum také zahrnoval vývoj programů, které se používají na elektronově optický design a jejich integrace do programového prostředí Julia.
SMV-2020-31: Návrh a simulace elektronově optických prvků
Radlička, Tomáš
V rámci smluvního výzkum bylo zpracováno několik studií proveditelnosti týkajících se optických vlastností elektronově optických elementů, optimalizace jejich designu a jejich možné integrace do elektronového mikroskopu. To zahrnovalo výpočet vad metodou diferenciálních algeber, výpočet rozlišení pomocí vlnově optických výpočtů a analýzu vad seřízení. Kromě designu jsme se také zabývali možností přípravy optického elementu, jehož součástí je grafénová fólie.
Řešení složitých elektronově optických problémů v EOD
Lencová, Bohumila
Příspěvek provádí shrnutí možností přesného výpočtu potenciálu metodou konečných prvků prvního řádu a vysoce přesného trasování částic v numericky spočtených polích, jak bylo implementováno v programu EOD. Použití programu je ilustrováno na výsledcích výpočtu koeficientů vad třetího řádu elektrostatického elektronového zrcadla z výsledků trasování a výpočty korektorů osových vad elektronových mikroskopů.
Programs for design of systems in particle optics
Lencová, Bohumila ; Zlámal, J. ; Jánský, P.
The paper describes a number of programs used by us in the design of systems for surface studies and deposition that simulate the focusing, transport and deflection of charged particles. In deposition and implantation systems often quite intense beams of ions are used where the space charge effects become prohibitive. Therefore we have extended our 2D FEM program EOD, equipped with a Windows graphical interface, with an option to compute space charge limited beams.
Vybrané příklady našich výpočtů
Lencová, Bohumila ; Jánský, Pavel ; Zlámal, J.
Článek diskutuje vlastnosti programu EOD (Electron Optical Design), který obsahuje uživatelský interfejs pro Windows, integruje všechny programy pro dvourozměrné výpočty metodou konečných prvků prvního řádu, trasování částic ve vypočtených polích, simulaci elektronových a iontových zdrojů a výpočet svazků omezených prostorovým nábojem. Většina součástí programu je v beta vývojové fázi, a jsou již používány v řadě našich projektů. Program byl například použit pro simulaci iontově optického systému pro depozici iontovými svazky na VUT v Brně od zahrnutí vytváření plazmatu v iontovém zdroji stejně jako pro započtení vlivu prostorového náboje v iontovém svazku transportovaném systémem. Můžeme také počítat elektronové trysky s vlivem prostorového náboje, jak to ilustruje příklad výpočtu známé Pierceovy trysky. Grafické možnosti ilustruje výřez trojrozměrného zobrazení elektronové trysky pro svařování elektronovým paprskem
Nejnovější vývoj software pro částicovou optiku
Lencová, Bohumila
Článek podává přehled vývoje programového zabezpečení pro elektronovou optiku v ÚPT. Nové problémy a aplikace nás nutí k tomu, abychom zdokonalili existující programy a získali z nich lepší výsledky, což vyžaduje neustálé zlepšování našich vlastních programů. Snažíme se také zlepšit uživatelský interfejs, který by měl pracovat v operačním systému Windows. Pro zpracování velkého množství dat, které získáme například při výpočtu optických vlastností, je vhodné využívat v co nejvyšší míře další známé prostředky, jako je EXCEL, abychom mohli zpracovat výsledky výpočtů

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.