|
|
Very low energy STEM/TOF system
Daniel, Benjamin ; Radlička, Tomáš ; Piňos, Jakub ; Frank, Luděk ; Müllerová, Ilona
Scanning low energy electron microscopes (SLEEMs) have been built at ISI for over 20 years, either by modification of commercially available SEMs with a cathode lens or completely self-built in case of a dedicated ultra-high vacuum scanning low energy electron microscope (UHV SLEEM). Recently, the range of detection methods has been extended\nby a detector for electrons transmitted through ultrathin films and 2D crystals like graphene. For a better understanding of interaction between low energy electrons and solids in general, and the image contrast mechanism in particular, it was considered useful to measure the energy of transmitted electrons. This allows a better comparison with simulations, which suffer from increasing complexity due to a stronger interaction of electrons with the density of states at low energies.
|
|
|
Mikroskopie pomalými elektrony ve studiu složitých krystalických struktur
Mikmeková, Šárka ; Kasl, Josef (oponent) ; Švejcar, Jiří (oponent) ; Frank, Luděk (vedoucí práce)
Pro studium krystalové struktury materiálů se standardně používají metody difrakční (RTG, neutrony, synchrotronové záření), dále difrakce zpětně odražených elektronů, skenovací transmisní elektronová mikroskopie, transmisní elektronová mikroskopie a mikroskopie pomocí fokusovaného iontového svazku. Mikroskopie pomalými elektrony (SLEEM) není stále příliš známou metodou pro studium polykrystalů, a to navzdory tomu, že představuje velmi účinný nástroj pro zobrazení krystalové struktury. Pomocí pomalých elektronů emitovaných ze vzorku a detekovaných v celém úhlovém a energiovém spektru je dosaženo vysokého prostorového rozlišení a velkého kontrastu mezi odlišně orientovanými zrny. Díky vysoké citlivosti metody na distribuci vnitřního potenciálu lze zobrazit strukturní detaily, jako jsou např. subzrna či dvojčata a mapovat vnitřní napětí. Smyslem dizertační práce je demonstrovat metodu SLEEM jako efektivní nástroj pro studium širokého spektra materiálů, jako jsou oceli, neželezné slitiny a ultrajemnozrnné kovy.
|
|
| |
|
|
Ultrahigh vacuum scanning low energy electron microscope (UHV SLEEM) for surface studies
Müllerová, Ilona ; Frank, Luděk
The aim of project is to study clean and well-defined surfaces via interaction of electrons at energies from 0 to 25 keV with a high spatial resolution. During the period 1995-2001 we have built an Ultrahigh Vacuum Scanning Low Energy Electron Microscope for surface studies. The image resolution below 50 nm can be achieved at 10 eV. The residual pressure in the specimen vicinity is 10.sup.-10./sup. mbar. The paper briefly describes main parameters of the instrument.
|
host ::
RSS.