|
| |
|
|
Ampérmetr s velkým rozlišením
Honek, Marek ; Roubal, Zdeněk (oponent) ; Steinbauer, Miloslav (vedoucí práce)
Transmisní elektronový mikroskop je zařízení pracující na podobném principu jako optický mikroskop. Pro dosažení obrovských zvětšení využívá faktu, že elektrony mají mnohem kratší vlnovou délku než fotony. Pro zaostření světla se používají skleněné čočky, které jsou v elektronovém mikroskopu nahrazeny cívkami generujícími magnetické pole. To je přímo úměrné velikosti proudu, který těmito cívkami prochází. Pro dosažení vysokého rozlišení je nezbytné, aby proud dodávaný do cívek byl co možná nejstabilnější. Tato práce rozebírá metody měření proudu a snaží se o návrh zařízení pro měření stability proudu s rozlišením 1 ppm.
|
|
|
Systém pro stabilizaci teploty
Malý, Pavel ; Běťák, Petr (oponent) ; Kadlec, Jaroslav (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá problematikou, programovým vybavením a návrhem Systému pro stabilizaci teploty libovolného prostředí. Podmínkou při návrhu je využití Peltierova článku a námi zvoleného mikrokontroléru. Princip spočívá v nastavení teploty pomocí inkrementálního rotačního čidla (IRC) a řízení Peltierova článku za pomocí MOSFET tranzistorů. Zapojené tranzistory jsou označovány jako H-bridge, pomocí kterých ovládáme výkon již zmíněného Peltierova článku. Jádrem zapojení je mikrokontrolér, kde je vybrán typ mikrokontroléru od firmy ATMEL. Ten je označován jako ATmega16. Otázka programování je vyřešena pomocí rozhraní ISP (In System programming), které umožňuje programovat mikrokontrolér přímo v aplikaci. Veškeré hodnoty jsou zobrazovány na LCD displeji. Celé zapojení je napájeno adaptérem o hodnotě 5V.
|
|
|
Ampérmetr s velkým rozlišením
Honek, Marek ; Roubal, Zdeněk (oponent) ; Steinbauer, Miloslav (vedoucí práce)
Transmisní elektronový mikroskop je zařízení pracující na podobném principu jako optický mikroskop. Pro dosažení obrovských zvětšení využívá faktu, že elektrony mají mnohem kratší vlnovou délku než fotony. Pro zaostření světla se používají skleněné čočky, které jsou v elektronovém mikroskopu nahrazeny cívkami generujícími magnetické pole. To je přímo úměrné velikosti proudu, který těmito cívkami prochází. Pro dosažení vysokého rozlišení je nezbytné, aby proud dodávaný do cívek byl co možná nejstabilnější. Tato práce rozebírá metody měření proudu a snaží se o návrh zařízení pro měření stability proudu s rozlišením 1 ppm.
|
|
|
Systém pro stabilizaci teploty
Malý, Pavel ; Běťák, Petr (oponent) ; Kadlec, Jaroslav (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá problematikou, programovým vybavením a návrhem Systému pro stabilizaci teploty libovolného prostředí. Podmínkou při návrhu je využití Peltierova článku a námi zvoleného mikrokontroléru. Princip spočívá v nastavení teploty pomocí inkrementálního rotačního čidla (IRC) a řízení Peltierova článku za pomocí MOSFET tranzistorů. Zapojené tranzistory jsou označovány jako H-bridge, pomocí kterých ovládáme výkon již zmíněného Peltierova článku. Jádrem zapojení je mikrokontrolér, kde je vybrán typ mikrokontroléru od firmy ATMEL. Ten je označován jako ATmega16. Otázka programování je vyřešena pomocí rozhraní ISP (In System programming), které umožňuje programovat mikrokontrolér přímo v aplikaci. Veškeré hodnoty jsou zobrazovány na LCD displeji. Celé zapojení je napájeno adaptérem o hodnotě 5V.
|
|
| |
|
|
Temperature stabilization of semiconductor lasers for direct measurement of index of refraction of air
Matoušek, Vít
Laser interferometers are even more precise distance measurement devices with resolution in nanometer or sub-nanometer region. If interferometric measurements are carried out under atmospheric conditions (usual situation in industry), they measure optical path length of an unknown distance instead of its true geometrical value. It is caused by an index of refraction of air that introduces a multiplicative constant to measured results. If we want to obtain correct values, the knowledge of the index of refraction is necessary. Generally, the index of refraction can be measured by two ways: indirectly or directly. The first of them is based on parametric analysis of atmospheric properties as: relative humidity, pressure, temperature, concentration of CO.sub.2./sub. etc. Values of these parameters are processed then by Edlen formulas with 10.sup.-7./sup. order [1]. The direct methods are more precise then Edlen formulas (more than 10.sup.-7./sup.) but their practical implementation is more difficult. Devices that directly measure the index of refraction are called refractometers.
|
host ::
RSS.