Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"NXP Kinetis"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Monitorovací systém testovacího zařízení elektrických motorů
 Klecker, Jan ; Musil, Vladislav (oponent) ; Pavlík, Michal (vedoucí práce)
Obsahem této práce bude navrhnout systém pro měření teploty kritických částí testovací stolice pro měření vlastností pohonů s elektrickými motory firmy NXP. V rámci teoretické části bude analyzováno měření teploty pomocí teplotních senzorů a jejich připojení k mikrokontroléru. V praktické části pak bude realizováno samotné zařízení na měření a zpracování teploty. Jádrem celého zařízení bude mikrokontrolér z rodiny Kinetis MKVxx firmy NXP.
Úplný záznam
Monitorovací systém testovacího zařízení elektrických motorů
 Klecker, Jan ; Musil, Vladislav (oponent) ; Pavlík, Michal (vedoucí práce)
Obsahem této práce bude navrhnout systém pro měření teploty kritických částí testovací stolice pro měření vlastností pohonů s elektrickými motory firmy NXP. V rámci teoretické části bude analyzováno měření teploty pomocí teplotních senzorů a jejich připojení k mikrokontroléru. V praktické části pak bude realizováno samotné zařízení na měření a zpracování teploty. Jádrem celého zařízení bude mikrokontrolér z rodiny Kinetis MKVxx firmy NXP.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English