|
|
Analýza stochastických procesů v elektronických součástkách
Vlčková, Irena ; Šebesta, Vladimír (oponent) ; Zajaček, Jiří (vedoucí práce)
V této bakalářské práci se zabývám šumem elektronických součástek, využití nedestruktivní analýzy ke zpracování elektronického šumu v polovodičových součástkách a měřením vzorků. Práce je rozdělena do tematických okruhů: Typy šumů; Spektrum náhodných spojitých signálů, Výpočty spektra pomocí metody periodogramu a metodou sub-pásmového kódování a následná FFT, Aparatura pro měření šumu, Výsledky měření šumu. V praktické části 5 a 6 jsou uvedeny výsledky měření na vybraných elektronických součástkách, transportní a šumové charakteristiky a to je porovnáno s teoretickými předpoklady
|
|
|
Šumová diagnostika PN přechodu usměrňovacích diod
Klimíček, Jaromír ; Macků, Robert (oponent) ; Raška, Michal (vedoucí práce)
Práce se zabývá návrhem měřící aparatury pro měření šumu mikroplazmy. Šum mikroplazmy vzniká v defektních částech PN přechodu. Cílem této práce je navrhnout měřící aparaturu a realizovat funkční pracoviště pro měření šumu mikroplazmy, provést měření šumu mikroplazmy a zjistit přenosovou funkci měřící aparatury. Jde především o zvolení vhodných měřících přístrojů, naprogramování programu pro automatizované měření. Poté o zpracování změřených časových průběhů šumu mikroplazmy, výpočty středních hodnot délek impulzů šumu mikroplazmy, zjištění závislosti tohoto šumu na napětí a výpočet spektrální výkonové hustoty. Dalším cílem je zjištění přenosové funkce měřící aparatury a navržení inverzního filtru.
|
|
|
Šumová spektroskopie detektorů záření na bázi CdTe
Zajaček, Jiří ; Štourač, Ladislav (oponent) ; Hájek, Karel (oponent) ; Grmela, Lubomír (vedoucí práce)
Předmětem této práce je šumová spektroskopie detektorů (-záření a paprsků X) vyrobených na bázi CdTe. Vychází se ze sledování hladiny nízkofrekvenčního nadbytečného šumu při transportu náboje jak v časové tak ve frekvenční oblasti prostřednictvím spektrální hustoty výkonu (PSD) s logaritmickým rozlišením frekvenční osy. V práci je nově popsaný návrh měřící metody PSD, který je odvozený od diskrétní vlnkové transformace a dává srovnatelné výsledky s dříve užívanou analogovou technikou. Na námi vytvořený model monokrystalu CdTe je možno pohlížet jako na antiseriové spojení dvou Shottkyho diod s rezistorem mezi nimi. Ten pak představuje odpor v objemu vzorku polovodiče, který se mění v důsledku změny koncentrace nosičů při konstantních podmínkách jako je teplota nebo přiložené napětí či osvětlení. Při změně teploty se vzorek CdTe zpočátku chová jako kov. V důsledku změny pohyblivosti nosičů (děr nebo elektronů) pak začnou převládat vlastnosti polovodiče díky jejich tepelné generaci. Spektrální hustota výkonu nízkofrekvenčního šumu závisí na počtu volných nosičů ve vzorku. U všech zkoumaných vzorků byla hladina šumu 1/f mnohonásobně vyšší než se dá určit pomocí Hoogeho teorie. To je způsobeno nízkou koncentrací nosičů ve vyprázdněné vrstvě záporně polarizovaného kontaktu.
|
|
|
Studium elektrických vlastností tenkých polymerních vrstev
Pospíšil, Jan ; Vala, Martin (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Práce je zaměřena na studium elektrických a dielektrických vlastností tenkovrstvých organických materiálů, které mohou být využity jako aktivní vrstva fotovoltaických článků. Zejména byly studovány vlastnosti vrstev na podložkách z PET (popř. skla), které jsou tvořeny tenkou aktivní vrstvou polymethylfenylsilanu (PMPSi) nebo deriváty diketopyrrolpyrrolu (DPP). Na vybraném vzorku byly nejprve měřeny volt-ampérové charakteristiky a závislosti proudu na čase při konstantním napětí (relaxační závislosti V-A charakteristik). Nakonec byly proměřeny frekvenční závislosti (impedanční spektra) a také jejich relaxační závislosti. Naměřená data byla vyhodnocena pomocí metod fraktální analýzy v programu HarFA. Získané výsledky budou využity k optimalizaci vlastností fotovoltaických článků.
|
|
|
Šumová spektroskopie detektorů záření na bázi CdTe
Zajaček, Jiří ; Štourač, Ladislav (oponent) ; Hájek, Karel (oponent) ; Grmela, Lubomír (vedoucí práce)
Předmětem této práce je šumová spektroskopie detektorů (-záření a paprsků X) vyrobených na bázi CdTe. Vychází se ze sledování hladiny nízkofrekvenčního nadbytečného šumu při transportu náboje jak v časové tak ve frekvenční oblasti prostřednictvím spektrální hustoty výkonu (PSD) s logaritmickým rozlišením frekvenční osy. V práci je nově popsaný návrh měřící metody PSD, který je odvozený od diskrétní vlnkové transformace a dává srovnatelné výsledky s dříve užívanou analogovou technikou. Na námi vytvořený model monokrystalu CdTe je možno pohlížet jako na antiseriové spojení dvou Shottkyho diod s rezistorem mezi nimi. Ten pak představuje odpor v objemu vzorku polovodiče, který se mění v důsledku změny koncentrace nosičů při konstantních podmínkách jako je teplota nebo přiložené napětí či osvětlení. Při změně teploty se vzorek CdTe zpočátku chová jako kov. V důsledku změny pohyblivosti nosičů (děr nebo elektronů) pak začnou převládat vlastnosti polovodiče díky jejich tepelné generaci. Spektrální hustota výkonu nízkofrekvenčního šumu závisí na počtu volných nosičů ve vzorku. U všech zkoumaných vzorků byla hladina šumu 1/f mnohonásobně vyšší než se dá určit pomocí Hoogeho teorie. To je způsobeno nízkou koncentrací nosičů ve vyprázdněné vrstvě záporně polarizovaného kontaktu.
|
|
|
Analýza stochastických procesů v elektronických součástkách
Vlčková, Irena ; Šebesta, Vladimír (oponent) ; Zajaček, Jiří (vedoucí práce)
V této bakalářské práci se zabývám šumem elektronických součástek, využití nedestruktivní analýzy ke zpracování elektronického šumu v polovodičových součástkách a měřením vzorků. Práce je rozdělena do tematických okruhů: Typy šumů; Spektrum náhodných spojitých signálů, Výpočty spektra pomocí metody periodogramu a metodou sub-pásmového kódování a následná FFT, Aparatura pro měření šumu, Výsledky měření šumu. V praktické části 5 a 6 jsou uvedeny výsledky měření na vybraných elektronických součástkách, transportní a šumové charakteristiky a to je porovnáno s teoretickými předpoklady
|
|
|
Šumová diagnostika PN přechodu usměrňovacích diod
Klimíček, Jaromír ; Macků, Robert (oponent) ; Raška, Michal (vedoucí práce)
Práce se zabývá návrhem měřící aparatury pro měření šumu mikroplazmy. Šum mikroplazmy vzniká v defektních částech PN přechodu. Cílem této práce je navrhnout měřící aparaturu a realizovat funkční pracoviště pro měření šumu mikroplazmy, provést měření šumu mikroplazmy a zjistit přenosovou funkci měřící aparatury. Jde především o zvolení vhodných měřících přístrojů, naprogramování programu pro automatizované měření. Poté o zpracování změřených časových průběhů šumu mikroplazmy, výpočty středních hodnot délek impulzů šumu mikroplazmy, zjištění závislosti tohoto šumu na napětí a výpočet spektrální výkonové hustoty. Dalším cílem je zjištění přenosové funkce měřící aparatury a navržení inverzního filtru.
|
|
|
Studium elektrických vlastností tenkých polymerních vrstev
Pospíšil, Jan ; Vala, Martin (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Práce je zaměřena na studium elektrických a dielektrických vlastností tenkovrstvých organických materiálů, které mohou být využity jako aktivní vrstva fotovoltaických článků. Zejména byly studovány vlastnosti vrstev na podložkách z PET (popř. skla), které jsou tvořeny tenkou aktivní vrstvou polymethylfenylsilanu (PMPSi) nebo deriváty diketopyrrolpyrrolu (DPP). Na vybraném vzorku byly nejprve měřeny volt-ampérové charakteristiky a závislosti proudu na čase při konstantním napětí (relaxační závislosti V-A charakteristik). Nakonec byly proměřeny frekvenční závislosti (impedanční spektra) a také jejich relaxační závislosti. Naměřená data byla vyhodnocena pomocí metod fraktální analýzy v programu HarFA. Získané výsledky budou využity k optimalizaci vlastností fotovoltaických článků.
|
host ::
RSS.