|
|
Posouzení geometrické přesnosti obráběcího centra pomocí digitálních inklinometrů
Únar, Jan ; Marek, Tomáš (oponent) ; Holub, Michal (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá posouzením geometrické přesnosti obráběcího centra MCV 754 QUICK. Pro měření přesnosti byly použity digitální inklinometry BlueSYSTEM od firmy WYLER AG, laserový interferometr XL-80 od firmy RENISHAW, Ballbar QC20-W od firmy RENISHAW a samonaváděcí laserový interferometr LaserTRACER od firmy ETALON AG. Posuzovala se odchylka přímosti Z ve směru osy X. V první části práce je popsána geometrická přesnost stroje, aktuální dostupné přístroje pro měření geometrické přesnosti a vysvětlení pojmu přímost. V druhé části je návrh měření, experiment, následné vyhodnocení a zpracování výsledků a doporučení pro výuku.
|
|
|
Posouzení geometrické přesnosti obráběcího centra pomocí digitálních inklinometrů
Únar, Jan ; Marek, Tomáš (oponent) ; Holub, Michal (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá posouzením geometrické přesnosti obráběcího centra MCV 754 QUICK. Pro měření přesnosti byly použity digitální inklinometry BlueSYSTEM od firmy WYLER AG, laserový interferometr XL-80 od firmy RENISHAW, Ballbar QC20-W od firmy RENISHAW a samonaváděcí laserový interferometr LaserTRACER od firmy ETALON AG. Posuzovala se odchylka přímosti Z ve směru osy X. V první části práce je popsána geometrická přesnost stroje, aktuální dostupné přístroje pro měření geometrické přesnosti a vysvětlení pojmu přímost. V druhé části je návrh měření, experiment, následné vyhodnocení a zpracování výsledků a doporučení pro výuku.
|
|
|
Temperature stabilization of semiconductor lasers for direct measurement of index of refraction of air
Matoušek, Vít
Laser interferometers are even more precise distance measurement devices with resolution in nanometer or sub-nanometer region. If interferometric measurements are carried out under atmospheric conditions (usual situation in industry), they measure optical path length of an unknown distance instead of its true geometrical value. It is caused by an index of refraction of air that introduces a multiplicative constant to measured results. If we want to obtain correct values, the knowledge of the index of refraction is necessary. Generally, the index of refraction can be measured by two ways: indirectly or directly. The first of them is based on parametric analysis of atmospheric properties as: relative humidity, pressure, temperature, concentration of CO.sub.2./sub. etc. Values of these parameters are processed then by Edlen formulas with 10.sup.-7./sup. order [1]. The direct methods are more precise then Edlen formulas (more than 10.sup.-7./sup.) but their practical implementation is more difficult. Devices that directly measure the index of refraction are called refractometers.
|
|
|
Temperature stabilization of semiconductor lasers for direct measurement of index of refraction of air
Matoušek, Vít
Laser interferometers are even more precise distance measurement devices with resolution in nanometer or sub-nanometer region. If interferometric measurements are carried out under atmospheric conditions (usual situation in industry), they measure optical path length of an unknown distance instead of its true geometrical value. It is caused by an index of refraction of air that introduces a multiplicative constant to measured results. If we want to obtain correct values, the knowledge of the index of refraction is necessary. Generally, the index of refraction can be measured by two ways: indirectly or directly. The first of them is based on parametric analysis of atmospheric properties as: relative humidity, pressure, temperature, concentration of CO.sub.2./sub. etc. Values of these parameters are processed then by Edlén formulas with 10.sup.-7./sup. order [1]. The direct methods are more precise then Edlén formulas (more than 10.sup.-7./sup.) but their practical implementation is more difficult. Devices that directly measure the index of refraction are called refractometers.
|
host ::
RSS.