|
LPE Growth of III-V Semiconductors from rare-earth Treated Melts
Grym, Jan ; Procházková, Olga ; Zavadil, Jiří ; Žďánský, Karel
We focus on the characterization of InP and InGaAsP layers prepared by liquid phase epitaxy with rare-earth admixtures. We applied photoluminescence spectroscopy (PL), capacitance-voltage measurements, and secondary ion mass spectroscopy in order to explain: (i) the gettering effect and conductivity crossover of InP layers for Pr treated samples, (ii) narrowing of the PL and elecroluminescent spectra of the active InGaAsP region of a double-heterostructure LED.
|
| |
|
Růst InP metodou LPE s přídavkem prvků vzácných zemin do taveniny
Grym, Jan ; Procházková, Olga ; Zavadil, Jiří ; Žďánský, Karel
Je známo, že přidáním prvků vzácných zemin do růstové taveniny lze získat LPE vrstvy sloučenin AIIIBV vysoké čistoty. Každý z těchto prvků však vykazuje jedinečné chování. Nízké přídavky Tb, Dy, Tm a Pr vedou ke getraci mělkých donorů a růstu čistých vrstev vodivosti typu n. Při překročení určité koncentrace dochází ke změně vodivostního typu. Přídavek Tm na InP:Fe substrátech má za následek konverzi epitaxní vrstvy do semiizolačního stavu kvůli difuzi Fe zprostředkované vzácnou zeminou.
|
|
Asymetrie krystalografických pórů v polovodičích A.sup.3./sup. B.sup.5./sup
Nohavica, Dušan ; Gladkov, Petar ; Jarchovský, Zdeněk
V příspěvku je dokumentována naprostá neekvivalence rovin (011) z hlediska vytváření porů v InP a některých dalších sloučeninách A.sup.3./sup. B.sup.5./sup. . V rovině (01-1) existují tři druhy krystalograficky orientovaných porů s různou orientací. V rovině kolmé, (011) existují pouze trojúhelnikové průsečíky porů s touto rovinou. Tepelným zpracováním InP destiček jsou pory konvertovány do sférických dutin, jejichž laterálním zárustem se daří snižovat hustotu defektů prorůstajících z podložky.
|
|
Physical properties of InP epitaxial layers prepared with dysprosium admixture
Grym, Jan ; Procházková, Olga
Physical properties of commonly prepared InP layers grown by LPE technique and those grown from Dy treated melt are compared. The layers were examined by SEM, low temperature PL spectroscopy, C-V measurements and temperature dependent Hall effect. Structural, electrical and optical properties of InP layers exhibit a significant dependence on the presence of Dy and its concentration in the melt. When increasing the concentration of Dy the reversal of electrical conductivity occurs.
|
| |
| |
| |
| |
| |