|
|
Návrh a testování vhodné metodiky pro čištění povrchů preparátů in situ pro elektronovou mikroskopii pomalými elektrony
Rudolfová, Zdena ; Vávra,, Ivo (oponent) ; Kolíbal, Miroslav (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá metodikou přípravy polovodičových vzorků pro pozorování dopova- ných struktur v rastrovacím elektronovém mikroskopu pomalými elektrony. V první části je podrobně zpracována teorie zobrazování povrchů pomocí elektronového svazku a rozdíly klasické rastrovací elektronové mikroskopie (SEM) a rastrovací elektronové mikroskopie pomalými elektrony (LVSEM). Je vysvětlen vznik kontrastu v SEM i LVSEM i teorie popisující vznik kontrastu různě dopovaných polovodičů. Druhá část obsahuje naměřená experimentální data. Jsou diskutovány výhody a nedostatky přípravy povrchu štípáním i fokusovaným iontovým svazkem (FIB), který byl shledán jako nejlepší způsob přípravy povrchu pro analýzu přesně určeného místa na vzorku. Nutné je použití co nejnižšího urychlovacího napětí závěrečného leštění FIB, ideálně 1 kV.
|
|
|
Návrh kuželového štípače na dřevo
Stejskal, Jan ; Pokorný, Přemysl (oponent) ; Hloušek, David (vedoucí práce)
Bakalářská práce se skládá z úvodní rešeršní části a konstrukčního návrhu kuželového štípače na dřevo se zadanými technickými parametry, maximální délkou a šířkou polena. Součástí práce jsou výpočtové a pevnostní kontroly vybraných součástí a závěrečné posouzení navrhované konstrukce zařízení z hlediska platné legislativy.
|
|
|
Návrh kuželového štípače na dřevo
Stejskal, Jan ; Pokorný, Přemysl (oponent) ; Hloušek, David (vedoucí práce)
Bakalářská práce se skládá z úvodní rešeršní části a konstrukčního návrhu kuželového štípače na dřevo se zadanými technickými parametry, maximální délkou a šířkou polena. Součástí práce jsou výpočtové a pevnostní kontroly vybraných součástí a závěrečné posouzení navrhované konstrukce zařízení z hlediska platné legislativy.
|
|
|
Návrh a testování vhodné metodiky pro čištění povrchů preparátů in situ pro elektronovou mikroskopii pomalými elektrony
Rudolfová, Zdena ; Vávra,, Ivo (oponent) ; Kolíbal, Miroslav (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá metodikou přípravy polovodičových vzorků pro pozorování dopova- ných struktur v rastrovacím elektronovém mikroskopu pomalými elektrony. V první části je podrobně zpracována teorie zobrazování povrchů pomocí elektronového svazku a rozdíly klasické rastrovací elektronové mikroskopie (SEM) a rastrovací elektronové mikroskopie pomalými elektrony (LVSEM). Je vysvětlen vznik kontrastu v SEM i LVSEM i teorie popisující vznik kontrastu různě dopovaných polovodičů. Druhá část obsahuje naměřená experimentální data. Jsou diskutovány výhody a nedostatky přípravy povrchu štípáním i fokusovaným iontovým svazkem (FIB), který byl shledán jako nejlepší způsob přípravy povrchu pro analýzu přesně určeného místa na vzorku. Nutné je použití co nejnižšího urychlovacího napětí závěrečného leštění FIB, ideálně 1 kV.
|
|
| |
host ::
RSS.