|
| |
|
|
Metoda napěťového kontrastu v ESEM
Buchta, Michal ; Černoch, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá problematikou napěťového kontrastu v ESEM. Cílem práce bylo experimentálně ověřit vliv použitých detektorů v závislosti na podmínkách v komoře vzorku na velikost napěťového kontrastu. Podmínkami v komoře vzorku rozumíme tlak a pracovní podmínky detekce signálu.. Jako vzorek byl použit výkonový tranzistor.
|
|
| |
|
|
Pozorování izolantů v ESEM
Matějka, Milan ; Špinka, Jiří (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Diplomová práce se v teoretické části zabývá principem a problematikou detekce signálních elektronů v rastrovací elektronové mikroskopii a problematikou projevů nabíjení izolačních vzorků. V experimentální části je popsána metodika kvalifikace a kvantifikace projevů nabíjení izolačního vzorku pozorovaném v environmentálním rastrovacím mikroskopu pomocí ionizačního a scintilačního detektoru v závislosti na tlaku vodních par v komoře vzorku. Cílem práce je vytvoření metodiky vhodné pro vyhodnocení nabíjecích projevu při pozorování u izolačních vzorku a na základě měření, stanovení optimálních podmínek pozorování izolantů v EREM pro ionizační a scintilační detektor.
|
|
|
System level analysis of thermal properties of integrated circuits
Vaněk, Martin ; Jirák, Josef (oponent) ; Frk, Martin (vedoucí práce)
The major aim of this work is to summarize the basic facts about the heat related topics with focus on applications in electronics and to perform measurements of thermal resistance of integrated circuit packages. The first part is theoretical and deals with the heat transfer theory, thermal properties of materials and JEDEC methodology for the thermal properties measurements of integrated circuit packages. The second part consists of the natural convection chamber construction, test printed circuit boards design and thermal measurements. In conclusion, methodology for the measurements of junction-to-ambient thermal resistance is summarized together with practical piece of knowledge from the preceding measurements. This work can serve as the base for further evaluations of integrated circuit thermal parameters and for verification of thermal simulations. It can also help to asses thermal conductivity of printed circuit boards.
|
|
|
Ionizační detektor pro EREM
Černoch, David ; Špinka, Jiří (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá vlivem vkládané mřížky mezi vzorek a ionizační detektor v environmentálním rastrovacím elektronovém mikroskopu. Při změnách tlaku, napětí na mřížce při různých vzdálenostech vzorek detektor a vzorek mřížka je měřena velikost relativní úrovně signálu. Vliv přídavné mřížky na detekovaný signál je simulován programem pro realné podmínky používaného ionizačního detektoru.
|
|
|
Základní vlastnosti polovodičových materiálů
Kahánek, Tomáš ; Jirák, Josef (oponent) ; Špinka, Jiří (vedoucí práce)
Předkládaná práce se zabývá základními vlastnostmi polovodičových materiálů a metodami měření vlastností polovodičů. Práce je zaměřena na metody bezkontaktních měření, kde se využívá světelných paprsků ke generaci náboje v polovodiči. Testy byly prováděny pro příměsové polovodiče na přechodu PN barevných diod a na vzorku křemíku s vysokou rezistivitou na kterém byla zjišťována absorpční hrana.
|
|
|
Ionizační detektor pro environmentální rastrovací elektronový mikroskop
Melechovský, Ondřej ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Předkládaná práce se zabývá environmentální rastrovací elektronovou mikroskopií. Na začátek je stručně popsána stavba přístroje. Důležitá část práce je věnována interakcím elektronů se vzorkem a signálům vystupujícím ze vzorku. Zejména se práce soustředí na detekci sekundárních elektronů pomocí ionizačního detektoru. Experimentálně je v práci určen vliv pracovních podmínek a velikosti elektrodového systému ionizačního detektoru na velikost detekovaného signálu.
|
|
|
Kontrast v obraze získaném pomocí ionizačního detektoru ve VP SEM
Goroš, Pavel ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá problematikou zkoumání látek elektronovým paprskem. Zaměřuje se na zkoumání látek pomocí metody environmentální rastrovací elektronové mikroskopie (ESEM) a popisuje její zákonitosti. Přednosti ESEM vynikají především při studii nevodivých nebo vodu obsahujících, často biologických vzorků. Tyto vzorky nemusejí být, na rozdíl od klasického rastrovacího elektronového mikroskopu, nijak preparovány či fixovány a díky tomu je studována jejich přirozená povrchová struktura bez poškození vyschnutím. Základním zaměřením práce je stanovení kontrastu v obraze získaném pomocí ionizačního detektoru.
|
|
|
Ionizační detektor pro ESEM
Pokluda, Tomáš ; Špinka, Jiří (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Diplomová práce je zaměřena na problematiku environmentálních rastrovacích elektronových mikroskopů, včetně popisu základních fyzikálních mechanismů. Popisuje návrh a realizaci elektrodového systému ionizačního detektoru vhodného pro detekci signálních elektronů s větším podílem sekundárních elektronů. Dále se zabývá simulacemi drah elektronů v elektrostatickém poli detektoru a ověřením funkčnosti detektoru v prostředí vodních par v komoře vzorku elektronového mikroskopu.
|
host ::
RSS.