|
|
Měření vázaného náboje pomocí povrchového napětí
Mojrová, Barbora ; Boušek, Jaroslav (oponent) ; Hégr, Ondřej (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá vývojem alternativní metody měření vázaného náboje v tenkých dielektrických vrstvách pomocí povrchového napětí. Přítomnost náboje v pasivační vrstvě se projevuje tzv. Back Surface Field (BSF) efektem, který přispívá ke snižování povrchové rekombinační rychlosti na zadní straně solárního článku. V práci jsou popsána experimentální měření dielektrických vrstev Al2O3, AlN, SiNx, Y2O3 a PSG deponovaných na krystalickém křemíku. Povrchové napětí (tj. volná povrchová energie) je vyhodnocována z velikosti úhlu smáčení (kontaktního úhlu) pomocí See Systemu.
|
|
|
Charakterizace nanostruktur deponovaných vysokofrekvenčním magnetronovým naprašováním
Hégr, Ondřej ; Boušek, Jaroslav (vedoucí práce)
Práce se zabývá analýzou nanostrukturovaných vrstev, deponovaných na povrch monokrystalického křemíku pomocí vysokofrekvenčního magnetronového naprašování. Obsah práce je zaměřen na aplikaci magnetronového naprašování jako alternativní metody pro depozici pasivačních a antireflexních vrstev na křemíkových solárních článcích. Je navržen postup pro předdepoziční čištění povrchů křemíkových substrátů plazmatickým leptáním v prostředí Ar/H2 a reaktivní depozici hydrogenovaných vrstev nitridu křemíku a nitridu hliníku ve směsi plynů Ar/N2/H2. Část práce je věnována popisu experimentálních depozic pseudokarbidových vrstev z křemíkového terče a reaktivního acetylenu (C2H2) v průmyslových podmínkách. Velký důraz je kladen na zkoumání vlastností vrstev a vytvářených poměrů na rozhraní křemík-vrstva za pomoci několika standardních a speciálních měřících metod. Strukturální složení naprašovaných vrstev je analyzováno moderními metodami rentgenové spektroskopie (XPS) a Fourierovské infračervené spektroskopie (FTIR). Pro diagnostiku optických vlastností naprašovaných vrstev v závislosti na vlnových délkách dopadajícího světla jsou vrstvy měřeny pomocí optické elipsometrie a spektrofotometrie. Zkoumání pasivačních účinků naprašovaných vrstev je zajišťováno speciální metodou pro měření plošného rozložení doby života nosičů náboje v objemu a na povrchu křemíkových substrátů (MW-PCD).
|
|
| |
|
|
Teplotní stabilita naprašovaných vrstev oxidu yttria
Kršňák, Jiří ; Boušek, Jaroslav (oponent) ; Hégr, Ondřej (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá chováním naprášené tenké vrstvy oxidu yttria po teplotním namáhání. V rámci řešení byly deponovány tenké vrstvy oxidu yttria na křemíkové substráty, které byly vystavovány různým cyklům teplotního namáhání. Testované struktury byly zkoumány před a po teplotním namáhání z hlediska stability povrchové topografie za pomoci elektronové mikroskopie.
|
|
|
Measurement of spectral characteristics in Labview environment
Konečný, Dávid ; Hégr, Ondřej (oponent) ; Boušek, Jaroslav (vedoucí práce)
This work deals with design of a program for measurement of characteristics luminescence of inorganic semiconductors in LabView environment. After understanding with theoretic part a program for automated measurements was made including two type of measurements option. The program for measurement of Volt-Ampere characteristics by given wave length and for measurement of current on wave length dependencies is presented.
|
|
|
Modifikace struktury křemíkových solárních článků
Strachala, Dávid ; Boušek, Jaroslav (oponent) ; Hégr, Ondřej (vedoucí práce)
Cílem práce je vytvořit ucelený přehled o křemíkovém monokrystalickém solárním článku z hlediska fyzikálního principu a sledu technologických operací nutných k jeho výrobě. Vliv jednotlivých výrobních kroků je diskutován za účelem omezení rekombinačních, optických a odporových ztrát solární struktury. Na základě teoretických předpokladů je poté v programu PC1D vytvořen jednorozměrný model solárního článku, který je optimalizován pro dosažení maximální konverzní účinnosti. Výsledný model solárního článku je s ohledem na dostupné technologie ve společnosti Solartec s.r.o. realizován a závěrem porovnán s výstupními parametry simulací.
|
|
|
High-Voltage Devices in Smart Power Technology
Šeliga, Ladislav ; Boušek, Jaroslav (oponent) ; Hégr, Ondřej (vedoucí práce)
This work describes fundamental characteristics of LDMOS transistors. In the first part of work are described properties of LDMOS transistors, the basic parameters and techniques to improve parameters of transistors. The next section discusses the reliability of LDMOS transistors. This section describes the safe operating area (SOA), hot carrier injection (HCI) and negative bias temperature instability (NBTI). The last theoretical section describes models used to simulate ESD events. The practical part is focused on simulation of the basic parameters PLDMOS and NLDMOS transistors and comparison of simulated and measured concentration profiles. Furthermore the thesis deals with simulation of the impact of changes in geometrical parameters of the PLDMOS transistor and the impact of these changes on the electrical parameters. The last part contains TLP simulations which examines electrical properties of PLDMOS transistor when is used as ESD protection.
|
|
|
Využití měřicí metody SPM v technologii výroby krystalických solárních článků
Mojrová, Barbora ; Boušek, Jaroslav (oponent) ; Hégr, Ondřej (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá využitím technik mikroskopie atomárních sil (AFM) a mikroskopie Kelvinovou sondou (KPFM) ve výrobě solárních článků. Obě techniky zjišťují požadované vlastnosti povrchu pomocí silových interakcí mezi ním a hrotem, jež postupně skenuje celý povrch vzorku. Mikroskopie atomárních sil umožňuje trojrozměrné zobrazení struktury povrchu. Mikroskopie Kelvinovou sondou se využívá pro měření kontaktního potenciálu povrchu a vrstev těsně pod ním. V práci jsou popsána experimentální měření topografie pomocí AFM u monokrystalických i multikrystalických substrátů po různých procesech leptání. Pomocí KPFM byl měřen kontaktní potenciál na struktuře selektivního emitoru a na pasivačních a antireflexních vrstvách PSG, SiOX, SiNX a Al2O3. Všechny experimenty popsané v této práci probíhaly na pracovišti společnosti Solartec s.r.o. a plně korespondují se současnou technologií výroby krystalických solárních článků.
|
|
|
Analýza a zlepšování hodnotového toku
Malec, Tomáš ; Hégr, Ondřej (oponent) ; Novotný, Radovan (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá obecnou analýzou a zlepšováním hodnotového toku. V práci je popsán rozdíl mezi funkčním a procesním modelem řízení společnosti, vzájemné výhody i nevýhody těchto systémů. Dále se práce zabývá mapováním procesů, členění druhů vybraných map a metodice vytváření procesních map. Práce také obsahuje rozbor software pro mapování procesů. V další části se nalézá rešerše vybraných optimalizačních nástrojů a metod pro zlepšení výrobních toků a popis zásad tvorby řízené dokumentace. V praktické části je realizováno mapování procesů bakalářského studia na FEKT a procesní mapa výroby rozváděče ve společnosti ABB.
|
|
| |
host ::
